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嵌入式软体与测试的变革:从MCU演进到品质验证
 

【作者: Hyun-Do Lee】2025年10月07日 星期二

浏览人次:【1129】

嵌入式软体的演进

随着嵌入式系统的发展,使其体积越来越小,效能越来越强大,并且具备更多功能。开发者如今要求更高的运算效能、更低的功耗,以及更高的系统整合度。为了满足这些需求,微控制器(MCU)与微处理器(MPU)技术也经历了重大的进展。


自1971年Intel推出第一款4位元MCU以来,MCU的效能已大幅提升。如今,基於Arm架构的32位元与64位元MCU已经能够运行超过1 GHz,而早期MCU的时脉则低於700 KHz。同时,记忆体容量也从几个位元组(bytes)扩展到数百万位元组(MB),使软体能够执行更复杂的功能。
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