账号:
密码:
最新动态
产业快讯
CTIMES / 文章 /
分散式模组化VNA有效解决长缆线测试痛点
简化安装流程

【作者: 王岫晨】2023年11月20日 星期一

浏览人次:【1648】

在待测物件(DUT)与向量网路分析仪(VNA)之间的连接电缆,会引入信号损失。这种??入损耗会降低VNA测量的有效动态范围。尤其是在高频的条件下,这种损耗更为显着。例如,典型的微波电缆在4GHz时,每公尺可能有约1dB的损耗,而在40GHz时,这个数值增加到约2~4dB。这显示出随着频率的升高和电缆长度的增加,损耗也会相应地增加。


而除了信号强度的损失外,电缆的长度也会带来相位不确定性。微小的偏差会导致相位测量结果的偏差。更为重要的是,这种偏差还受到环境温度和电缆运动的影响。这意味着,即使在理想的条件下进行了校准,实际的环境因素仍然可能对测量结果产生重大影响。


也因此,电缆的损耗与相位不确定性在高频下对VNA的测量精度将会产生显着影响。为了获得准确的测量结果,就需要使用低损耗、高精度的微波电缆,并采取措施来减小环境温度和电缆运动对相位测量的影响。只有这样,才能更准确地评估设备的性能,进行有效的设计和优化。
...
...

另一名雇主 限られたニュース 文章閱讀限制 出版品優惠
一般訪客 10/ごとに 30 日間 5//ごとに 30 日間 付费下载
VIP会员 无限制 20/ごとに 30 日間 付费下载
相关文章
让6G主动创造新价值 提供通讯产业应用机会
PCIe技术跃升主流 高速数位测试需求持续升温
新用户设备加速进入 毫米波市场稳定茁壮
高频晶圆测试难如上青天 新一代VNA为解决问题而生
5G专网方兴未艾 智慧工厂先蒙其利
相关讨论
  相关新闻
» Rohde & Schwarz 行动通讯测试高峰会聚焦无线通讯最新发展 - 现已提供线上回放
» 全球智慧手机用户数持续增长 2028年苹果将超越三星
»
» Honda发表全新e:HEV油电混合动力系统:S+ Shift技术
» 半导体生产技术加速演进 高纯度气体供应为成功基础


刊登廣告 新聞信箱 读者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 远播信息股份有限公司版权所有 Powered by O3  v3.20.1.HK8CJ8TF4HCSTACUKD
地址:台北数位产业园区(digiBlock Taipei) 103台北市大同区承德路三段287-2号A栋204室
电话 (02)2585-5526 #0 转接至总机 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw