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自动测试设备系统中的元件电源设计
 

【作者: Madhura Tapse】2024年07月26日 星期五

浏览人次:【113】

元件电源(DPS)IC能够弹性载入电压、载入电流,为自动测试设备(ATE)提供动态测试能力。当负载电流在两个可编程电流限值之间时,DPS IC为电压源,并且在达到设定的电流限值时平稳转换为精密电流源/灌电流。


图一为ADI新一代元件电源IC MAX32010的简化框图。开关FIMODE、FVMODE和FISLAVE MODE选择不同的工作模式,例如:载入电压(FV)、载入电流(FI)和FI Slave模式;开关HIZF和HIZM分别选择MV (电压测量)和MI (电流测量)模式。RANGE MUX与外部检流电阻相结合,支援不同的电流量程:RA (1.2A)、RB (20mA)、RC (2mA)和RD (200μA)。


透过改变检流电阻值,可靠自订电流量程,计算公式为: RSENSE = 1V/IOUT。CLEN开关和ICLMP、VCLMP DAC允许使用者设定可编程电压和电流箝位。



图一 : MAX32010方框图
图一 : MAX32010方框图

本文将首先介绍在系统中设计DPS IC电路的两个重要主要事项:量程变化时产生的突刺问题,以及供电效率问题。之後详细介绍建构满足具体应用需求的DPS系统时的相关事项。


突刺问题

我们首先讨论第一个注意事项,即量程变化时产生的尖峰电压或突刺。ATE在执行被测件(DUT)测试时,系统可能需要针对不同的测试要求更改电流量程。


对於IDDQ或静态电流的测量,通常要求置於最小电流量程,以测量较小的电流值。切换到最小电流量程时,所产生的电压脉冲或突刺不但会影响测量精度,而且可能损坏DUT。无扰动(突刺)量程切换能够有效保护DUT,并确保测试的有效性。


当负载电容为270pF时,ADI的DPS能够非常平稳进行量程转换,不会产生任何尖峰脉冲或突刺,如图二所示。没有负载电容(0pF)时,量程转换时间为20μs,缓变率为25mV/20μs。此种切换方案所产生的突刺远低於竞争方案,同类竞争产品DPS所产生的尖峰脉冲会达到159mV,持续时间长达几个微秒。由此可见,切换量程时,采用ADI的DPS可以获得最隹性能,突刺降低536%,不会对DUT造成任何损坏。



图二 : 量程切换时,ADI DPS和某竞争元件的尖峰脉冲比较。
图二 : 量程切换时,ADI DPS和某竞争元件的尖峰脉冲比较。

元件电源效率

元件电源的效率直接影响到系统的成本和可靠性,这也是选择DPS IC时第二个需要关注的问题。效率越高越有助於降低成本、提高系统的可靠性,并且延长系统的寿命。DPS的效率越低,产生的热量就越大;发热越多表示系统部件磨损越大、故障率越高。元件电源效率可依照下式计算:


效率 = 输入功率/输出功率


如表一所示,ADI DPS提供的电流(1.2A)高於竞争元件 (1A),且具有更高效率(58.33%)。MAX32010 DPS的效率比「竞品2」DPS IC的效率提高11%,比「竞品1」提高155%。


表一:竞争产品分析:元件电源效率 IC 电源 I/P 电源 O/P 效率 MAX32010 12V, 1.2A 7V, 1.2A 58.33% 竞品 1 16.25V, 1.2A 3.7V, 1.2A 22.76% 竞品 2 14.75V, 1A 7.75V, 1A 52.54% 以下,我们讨论如何建构满足具体应用要求的DPS系统。

如何实现负载电流客制化

ATE系统都会针对每个被测件(DUT)制定负载电流要求 (图三)。MAX32010设计中,只需更改一个检流电阻值即可实现针对具体测试零件的量程选择。MAX32010中的RANGE MUX允许选择以下电流量程之一:RA (1.2A)、RB (20mA)、RC (2mA)或RD (200μA)。检流电阻值的计算公式为: RSENSE = 1V/IOUT例如,如果负载电流要求为5mA;5mA定制负载电流处於量程B范围内。选择正确的 RSENSE: RSSENSE = RB = 1V/5mA = 200Ω。



图三 : 利用感流电阻实现客制化负载电流选择
图三 : 利用感流电阻实现客制化负载电流选择

如何增大输出电流

多数情况下,DUT要求的电流可能高於DPS能够提供的电流。透过将多个DPS元件并联,可以获得1.2A以上的电流,如图四所示。两片元件均配置在FI模式,可将输出电流翻倍。例如:将两片7V、1.2A的元件并联在一起,可实现高达7V、2.4A的输出电流。



图四 : 两片DPS并联实现较高的输出电流
图四 : 两片DPS并联实现较高的输出电流

提高DPS输出驱动电流能力的另一途径是采用脉冲输出。如果大电流输出仅限於较短的持续时间,脉冲式测量将是切实可行的选项,如图五所示。如此测试的一个例子是DUT的I-V特徵分析。透过更改FI导通时间的工作周期实现脉冲式测量。


在该测试中,DPS模式在50%的时间设定为FI模式,另外50%的时间设定为「高阻」模式。可根据DUT电流的要求更改工作周期。对於MAX32010 IC进行了该项试验,结果如下:


最大输出电流 = 1.436A (工作周期为50%)



图五 : 采用50%工作周期时,MAX32010的脉冲式测量输出
图五 : 采用50%工作周期时,MAX32010的脉冲式测量输出

为DPS系统选择正确的散热片

为了保证系统的可靠性和稳定性,选择正确的散热片必不可少。以下将逐步介绍如何为MAX32010选择正确的散热片。


【第1步】


确定封装的相关尺寸。对封装进行热分析有助於选择正确的散热片。充分利用外露焊垫散热区域非常重要。


【第2步】


根据PCB热特性计算热阻值(θJA)的边界条件。计算功率损耗,并将所有散热介质(传导、对流和辐射)纳入考量。


【第3步】


计算封装的温度分布时,散热器面积和散热风扇的气流是两个非常重要的变数(图六)。切记IC的结温应保持低於热关断温度。我们在静止空气环境下的测试分析显示,为了保证结温低於140。C,MAX32010需要采用面积为30.48mm x 30.48mm、厚度为5mm、鳍片长度为15mm的散热片。



图六 : MAX32010封装温度分布(具有散热片)
图六 : MAX32010封装温度分布(具有散热片)

【第四步】


为确保IC结温低於140。C,气流和散热片材料也非常重要。我们的分析显示,为铜散热器增加1m/s的气流,能够明显改善热性能(图七)。



图七 : MAX32010热分析
图七 : MAX32010热分析

总结

本文为自动测试设备(ATE)系统设计提供元件电源(DPS) IC的选型指南。文中讨论的注意事项可协助客户针对其具体的ATE系统需求合理选择DPS IC。文中同时介绍能够满足ATE系统输出电流、热要求的最隹系统级架构。


(本文作者Madhura Tapse为ADI公司应用高阶技术人员)


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