账号:
密码:
最新动态
产业快讯
CTIMES / 文章 /
内建式抖动量测试技术(中)
具有宽带操作与高分辨率

【作者: 李瑜、鄭乃禎、陳繼展】2008年10月07日 星期二

浏览人次:【8418】

抖动放大电路设计架构 [7] [8]


《图九 抖动放大电路之架构图与时序图》
《图九 抖动放大电路之架构图与时序图》

周期对周期抖动量即为后一个周期边缘En+1和前一个周期边缘En之相位误差,因此若要实现抖动量放大就必需将En和En+1间之边缘时间差拉大。在本文中将采用电流对负载充放电之原理来达到抖动放大之功能。我们以图九来说明其操作原理。


抖动放大电路基本上是由两组不同电流量之电荷帮浦(Charge Pump;CP)与决策电路(Decision Circuit;DC)所组成,而分别由待测讯号SUT、一个周期延迟后之讯号SUTd与两者之组合来控制。其最基本的想法为利用不同充电斜率(即充电速度)搭配讯号不同起始点(即转态边缘)之特性,来合成出具有较大抖动量的频率边缘。而为了清楚解释其放大原理,我们将SUT(S)与SUTd((Sd)依相位关系区分成四个区间,然后分别探讨在不同区间内的操作情形。如表一所示。
...
...

另一名雇主 限られたニュース 文章閱讀限制 出版品優惠
一般訪客 10/ごとに 30 日間 5//ごとに 30 日間 付费下载
VIP会员 无限制 20/ごとに 30 日間 付费下载
相关文章
内建式抖动量测试技术(下)
内建式抖动量测试技术(上)
随机杂讯对时脉抖动影响的理论与实验
相关讨论
  相关新闻
» 日本SEMICON JAPAN登场 台日专家跨国分享半导体与AI应用
» Nordic Thingy:91 X平台简化蜂巢式物联网和Wi-Fi定位应用的原型开发
» 豪威集团推出用於存在检测、人脸辨识和常开功能的超小尺寸感测器
» ST推广智慧感测器与碳化矽发展 强化於AI与能源应用价值
» ST:AI两大挑战在於耗能及部署便利性 两者直接影响AI普及速度


刊登廣告 新聞信箱 读者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 远播信息股份有限公司版权所有 Powered by O3  v3.20.1.HK8CN3N2K84STACUK1
地址:台北数位产业园区(digiBlock Taipei) 103台北市大同区承德路三段287-2号A栋204室
电话 (02)2585-5526 #0 转接至总机 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw