製程尺寸的縮短會帶來諸多影響,其中之一即傳統的OPC將無法在合理的回應時間內實現高圖像真實性。我們對此進行研究並提出了一個解決方案,將其命名為Matrix OPC。
首先,我們來探究應用於高階製程時,傳統的光學近似效應修正(OPC)存在的問題。 在OPC中,圖像每一個邊長會被切割成適當的區段,每個區段的邊長位置誤差(EPE)按照精心挑選或計算的回饋,進行反覆調整。傳統的OPC演算法假設光罩上單個多邊形區段和其晶片上相關的EPE間是為一對一的反應關係,這意味著移動光罩上的一個區段僅影響相關的EPE。反而言之,在OPC反覆運算中,光罩上區段的漸進移位完全可通過其關聯EPE估算出來,從28nm製程開始,這種手法過度簡化問題,而考量單一個區段EPE已經無法有效處理區段對區段之間的交互影響。
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