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TD-LTE技術與量測面面觀
 

【作者: Yvonne Liu、Bai Ying】   2009年08月04日 星期二

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LTE技術規格基礎按部就班


第三代行動電話系統(3G)早已佈建於世界各地,而其主流技術W-CDMA,可在下行與上行鏈路中支援高速封包接取(HSPA)功能,因此短期內仍將在無線通訊領域維持主導地位。目前,行動基地台最高的資料傳輸速率約為7.2Mbps,而每位用戶的資料傳輸速率預估可達1.5Mbps。為了持續保持競爭力,第三代行動電話夥伴計畫(3GPP)在3GPP UMTS第8版規範中,首次明訂了長期演進技術(Long Term Evolution;LTE)的規格,以因應未來10年內行動寬頻技術的新需求。將來LTE系統正式運作後,其資料傳輸速率將可超過300Mbps。



目前針對LTE進行的規範工作,主要集中於分頻雙工(Frequency Division Duplex;LTE FDD)的版本制訂。而以分時雙工(TDD)為基礎的中國TD SCDMA標準,已整合入3GPP的LTE規範當中,有助於晶片組與裝置研發工程師可將TDD功能納入開發計劃。中國目前正在推動的TD-LTE標準,則可進一步讓電信業者充分利用既有的非成對頻譜(unpaired spectrum)。



TD-LTE量測浮上檯面


相較於之前的標準,例如GSM/EDGE與W-CDMA,LTE只花極短時間就從第一代標準文件,演進到商業營運版本。而TD-LTE因近期才納入標準中,所以商業版演進時間更短。LTE規範的最大射頻(RF)頻寬為20MHz,使得手機與資料網卡的設計流程圖必須跟著改變,並因而出現了標準連結。此外,設計工程師須密集使用由軟體定義無線(Software Defined Radios)的功能,以確保多重格式(multi-format)裝置能與傳統系統相容。未來,設計工程師還須使用嶄新的量測工具與方法,來執行更多類比/數位跨域量測,以及數位輸入、射頻輸出(digital-in, RF-out)量測,進一步設計新產品。



TD-LTE技術規格大要


TD-LTE的運作頻率範圍為1850至2620MHz,並使用和FDD一樣的的多重輸入/多重輸出(MIMO)模型,以及上行和下行鏈路調變格式。亦即,下行鏈路使用正交分頻多重接取(OFDMA),而上行鏈路使用單一載波分頻多重接取(SC-FDMA)調變格式。TD-LTE支援兩種訊框配置,總長度均為10ms,並細分成10個子訊框,如圖一所示。



其中10ms訊框配置只有一個子訊框,而5ms的版本配置了兩個特殊的同步子訊框,可更彈性地調整上行與下行傳輸。如此一來,業者可根據即時的資料傳輸需求,動態地將訊框配置,變更為任何一種預設的配置。



《圖一 TD-LTE訊框配置示意圖》


規定訊框系統時序


每一個1ms的下行鏈路子訊框,均內含指派給不同用戶的區塊(資源區塊),上行鏈路子訊框則包含從用戶端傳送到基地台(eNB)的區塊。TD-LTE規定,小型資料封包的時延(從請求資訊到回覆的時間)為5ms,亦即訊框的一半時間。因此系統的時序很重要,包含補償基地台距離的時間差。目前的TD-LTE系統是專為低速行動用戶而設計的,在靜止或徒步時,可支援最高的傳輸速率。不過TD-LTE的最終目標是,為移動速度達時速500公里的用戶,提供高速通訊服務。



規範RF通道規格與量測方法


TD-LTE標準亦規範了1.4、3、5、10、15和20MHz、亦即與可彈性調整頻寬的LTE FDD相同的RF通道規格和量測方法。TD-LTE所定義的測試方法與項目,大多僅適用於使用單一發送與接收元件的單一碼型資料。適用於多碼型與MIMO配置的規格,目前仍在研議中。



TD-LTE技術初期的量測目標是,確保其發送與接收不會受到耗損影響。因此,業者需執行上行與下行鏈路的發射遮罩測試、最大與最小功率、功率控制、相鄰通道洩漏與寄生發射(spurious emissions)等主要測試項目,以盡可能降低干擾。圖二為發射開關遮罩的測試範例。



《圖二 發射信號遮罩測試範例示意圖》


TD-LTE量測重點


根據調變複雜度調整發射品質驗證


以下的量測項目,著重於發射品質的驗證,主要測試指標為錯誤向量大小(EVM)。以OFDM的下行鏈路為例,必須在時域中一個子訊框(1ms),以及頻域中12個子載波(180kHz)之上執行測量。它還根據調變的複雜程度來設定限制:調變格式愈高,規範限制就越嚴格。對於用戶端設備所發射的SC-FDMA上行鏈路徑而言,已分配和未分配的資源區塊是決定發射品質的要件,因此須分別測量用戶端所發射之頻道,以及其他尚未發射之頻道內的頻譜。此外,已分配的資源區塊須量測EVM與頻譜平坦度,而未分配的資源區塊則須量測會干擾信號,造成網路效能下滑的頻內洩漏與IQ偏移(載波洩漏)。



《圖三 顯示上行鏈路效能資料的VSA畫面》


測試接收器RF品質


在測試接收器RF品質時,一開始須使用一般呼叫協定來執行基本測試項目,包含:參考靈敏度、動態範圍、通道內選擇性、鄰頻選擇性阻斷,以及寄生發射,直到用戶端設備能連接到訊務通道為止。TD-LTE規定區塊錯誤率(BLER)不得超過目標值,並須維持訊務流量的目標值,通常為95%。其規定值需視所執行的測試項目、接收器頻寬,以及調變的複雜度而定。接著須驗證接收器在靜態與衰減環境中,並且在各種已支援的資料速率與通道頻寬下,是否能在專用實體通道內,正確地解調變專用控制通道。



換手交遞流程測試


TD-LTE設備必須與現有的3GPP系統相容,並且支援一系列的換手交遞(handover)流程,以確保其符合規格。這項驗證的目的是,確保不間斷的用戶服務,並且檢測從待機狀態與通話中頻段內TDD-TDD換手交遞,到頻段間切換與TDD-FDD換手、交遞至3G W-CDMA與HSPA系統,以及由TDD交遞到GSM系統等測試項目。



MIMO測試


LTE FDD和TD-LTE的指定射頻環境,都需支援MIMO運作方式,其測試與驗證方法尚未定案。分析組成MIMO發射器之個別資料串流的訊號相當簡單。MIMO接收器多重信號的測試項目包含即時衰減驗測,因而需產生特殊的測試訊號。在3GPP與量測產業中,正確的MIMO接收器運作,其驗證方式仍在研議中。初期的LTE佈建將採用2×2 MIMO架構(即兩個獨立的發射器與接收器),不過未來標準規範需使用高達4×4的MIMO架構。MIMO有助於提升覆蓋率與資料傳輸的能力,每一個發射器可發射其獨特的資料串流,接收器則執行複雜的陣列解調變,以還原原始的資料。



《圖四 2×2 MIMO配置範例示意圖》


其他流程測試亦非常關鍵


而這些只是初步的系統測試工作而已。除此之外,從晶片組設計到網路建置,每一個設計流程都需執行大量的測試,以驗證用戶的實際使用情形。除了確保互連能力外,完整的測試項目還包括驗證數千種用戶使用情境。唯有在系統佈建初期就確實驗證各項功能,電信業者才能了解客戶的實際使用經驗,並維持客戶忠誠度。



過去佈建WAP與 W-CDMA網路時,電信業者已經知道系統佈建與正式營運時,可能導致客訴的種種問題,例如網路覆蓋率不足、實際傳輸速率過低、過於耗費電池的電量、即時互動性不足等等。系統設計者與服務供應商必須在網路佈建前與變更設計後,藉由控制可複製的測試流程,來驗證在實際網路運作的狀況下,所能達到最高系統設計效能以及系統運作效能。



量測儀器廠商的因應之道


LTE TDD訊號產生與訊號分析解決方案


量測儀器廠商正在發展多款TD-LTE測試產品,協助業者加速TD-LTE系統的佈建進度。例如3GPP LTE TDD無線程式庫,結合系統軟體,可直接與訊號分析儀搭配使用,提供支援完整編碼的BER解決方案。這些測試工具,可有效驗證使用2×2與4×4 MIMO技術的LTE標準TDD版本。此解決方案還可針對待測裝置,執行完整編碼BER量測,包括模擬多重路徑衰減下的頻道耗損情形。



以PC為基礎的訊號分析應用軟體,則可支援LTE TDD波形產生,並可搭配使用各類向量訊號產生器,以及MIMO 接收器測試儀,以此產生標準的TD-LTE訊號。量測儀器廠商所推出的訊號分析應用軟體已經可以支援2008年9月公布的3GPP LTE TDD規範。此應用軟體亦提供PDSCH、PHICH、PCFICH、PBCH、PDCCH、PUSCH、PUCCH的多重頻道功能,並可發射下行與上行鏈路訊號。這些產品提供的基本功能,可有效測試基地台與手機元件,例如功率放大器與濾波器。它們亦支援進階接收器測試,以便驗證傳輸層編碼、4×4 MIMO預先編碼,以及多路徑信號衰減(Fading)。



RF和基頻訊號分析方案


針對RF與基頻設計工程師,量測儀器廠商亦提供完整的TD-LTE訊號分析工具,以及LTE收發器與元件的實體層測試和障礙排除功能。TD-LTE下行鏈路(OFDMA)、上行鏈路(SC-FDMA),及MIMO分析等測試功能,需則是有另外一套設計。量測儀器廠商提供的軟體,包含低於-50 dB的EVM(依不同硬體效能而定)、以及1.4MHz至20MHz的頻寬。其調變格式包括BPSK、QPSK、16 QAM、64 QAM、CAZAC、OSxPRBS、TDD下行/上行鏈路分配(0-6)與特殊子訊框長度(0-8),以及2×2 MIMO。這種軟體可應用於包括頻譜與訊號分析儀、示波器與邏輯分析儀,能協助業者在整體產品設計流程中,執行各種LTE測試,包含基頻到天線,以及數位或類比信號等測試,可與各類訊號分析儀、向量訊號分析儀及多款示波器搭配使用,來支援2×2 MIMO分析。



TD-LTE帶來全新的量測挑戰


市場預估在 5年之內,LTE用戶數將達到3000萬至8000萬,可望為電信業者帶來超過1000億美元的營收。因此,順利導入並佈建LTE技術,對於LTE市場的成熟化非常關鍵。系統或測試研發人員,必須花更多時間學習數位和RF領域以外的全新測試方法,加上測試點數量的減少,也進一步提高了測試難度。對於研發工程師以及設計和測試工具發展廠商而言,LTE,特別是TD-LTE,帶來了全新的挑戰,例如新型的RF調變機制、MIMO天線配置、更高的系統頻寬與容量、以及更低的延遲等等。在這個關鍵時刻,量測儀器廠商已經準備就緒。



(本文作者Yvonne Liu目前服務於美商安捷倫科技Agilent Technologies北京分公司中國通信運營(CCO)部門;Bai Ying為安捷倫科技應用工程師)



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