記憶體測試挑戰十足

當前記憶體元件市場的不確定性或許是有史以來最高的。在生產製造端，選用能因應不同需求、且能彈性地調整適用於不同產品的設備，有助於克服種種的不確定性。記憶體測試業面臨的不確定性有很多種形式，接腳數的改變即是一種，諸如晶圓測試（Wafer Sort）、良品裸晶（Known Good Die）和主要的終程測試（Final Test）等測試策略，甚至包含DRAM、快閃記憶體和多晶片封裝（MCP）等元件技術也是不確定的因素。

在使用年限內，能隨著測試需求的改變而調整因應的測試系統，才能對抗不確定性，儘管如此，不論在任何情況下，有效的測試系統都必須壓低測試的成本（COT）。
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