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【日本专家】藉由AI深度学习提升自动光学检查设备辨识能力
 


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開始時間﹕ 四月十日(五) 09:30 結束時間﹕ 四月十日(五) 16:30
主办单位﹕ 社團法人台灣電子設備協會
活動地點﹕ 台北市*实际地点依上课通知为准
联 络 人 ﹕ 楊小姐 联络电话﹕ 02-27293933 ext.17
報名網頁﹕ https://www.teeia.org.tw/zh-tw/Course/1090410/62?utm_source=newsletter_106&utm_medium=email&utm_camp
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随着全世界发展,当前产业被迫面临的棘手课题是,产品已从过去同规格的大量生产,转向「少量多样」与「多量多样」特色模式。唯有透过智能化辨识技术,结合全方位系统观的自动化与智慧制造规划,才能设计改善产线制程、品质、监控与回溯问题。但在部分在极高良率的要求下,AOI设备容易因敏感而出现过筛现象,因此产业在需要更智慧化的检测系统条件下,开始应用AI技术来辅助AOI设备进行後续筛检的优化,透过视觉辨识技术辅助AOI检测的後续优化,以提高检测设备的辨识正确率。

【报名日期】即日起至2020年4月8日止

【报名费用】原价4,500元/人(费用请勿另扣除邮资及汇兑手续费)

【课程优惠】

1 同公司2人以上同行享每人NT$3,500元

2.TEEIA会员享每人NT$3,000元。

3.2020年4月1日前报名且完成缴费者,享早鸟优惠价$3,800元。

※请於开课前完成缴费,课程现场缴费 ,恕不享以上优惠资格。

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