品牌是韩国三星电子突破"代工微利"的重要策略，优良的产品质量及营销是品牌成功的两大基石，而校正又是电子产业质量保证体系之母，新的测试技术亦会带来产品设计的革命，浩网科技特地爲南部的客户举办"掌握测试新技术，提升竞争力研讨会"，本研讨会的三大主轴为

1.整合式标准件爲仪校实验室带来的校正测试新方案。

国际质量标准ISO17025对测量不确定度提出了的严格要求。 为满足这样的标准，福禄克专爲校正试验室设计了整合式标准件。FLUKE 8508A具有参考标准的准确度。它的独特的功能、性能和准确度能让计量专家只使用一台设备而不是传统的八种设备就可以完成日常的多种测量工作。除测量交直流电压、电流和频率外，85058A还具有广泛测量范围的许多功能。可取代下列八种校正实验室中的仪器。

万用电表

电阻电桥(Resistance bridge)

电压分压器(voltage divider)

零点探测器(null detector)

交流/直流转换标准

精密温度表

交/直流分流器(ac/dc shunt resistors)

电流比较仪(Electrometer/pico-安培表)

2.高频校正实务。

目前许多电子产品的内部频率的速度越来越快，高频应用的产品亦日益广泛，有鉴于此我们将以此专题爲大家说明时间/频率校正的重要性及校正实务，而高频示波器是观察高频信号常用的仪器，高频示波器的校正与低频的校正方法亦有许多不同，我们将说明高频示波器的校正方法。

3.边界扫描(JTAG Boundary Scan)测试技术对产线测试的革命。

面对目前电子产品的发展，小型化的个人性数字电子产品如手机、PDA等为消费电子市场的重要产品，而这类产品因应个人携带方便的需求，印刷电路板的小型化及使用Micro BGA封装的集成电路是缩小产品体积的不二法门，也因此在产品的测试上传统的 ICT (In Circuit Tester)已无法满足功能性测试的需求，这些小型化的产品不可能为了使用ICT的测试再Layout中拉出额外的测试点供ICT测试，另外针对BGA封装的测试亦是传统ICT测试上无法有效解决的问题。JTAG公司在边界扫描测试技术(Boundary-Scan)上拥有15年以上的经验，边界扫描测试技术是采用内建于组件本身的硅质测试探针，当您采用具有JTAG(IEEE1149.1)技术的集成电路便可透过4-5个预留的测试信号线(TDI、TDO、TCK、TMS、TRST)进行完整的功能性测试，除了可解决传统ICT在BGA封装上的测试外，边界扫描测试技术(Boundary-Scan)为Design for Testing的最佳解决方案。

01:00PM~01:20PM

来宾报到

01:20PM~01:30PM

研讨会开幕致词

01:30PM~02:30PM

整合式标准件爲仪校实验室带来的校正测试新方案

02:30PM~02:50PM

茶点时间

02:50PM~03:50PM

高频校正实务探讨

03:50PM~04:20PM 边界扫描(JTAG Boundary Scan)测试技术对产线测试的革命

04:20PM~04:40PM

Q & A