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開始時間﹕ |
五月二十一日(四) 08:45 |
結束時間﹕ |
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主辦單位﹕ |
NI |
活動地點﹕ |
台北國際會議中心101 C室-台北市信義路五段1號 |
聯 絡 人 ﹕ |
倪小姐 |
聯絡電話﹕ |
02-2377-2222轉 5188或 5190 |
報名網頁﹕ |
ni.com/taiwan/seminar |
相關網址﹕ |
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過去30年以來,NI的工具讓全世界數千家公司降低測試成本,並提升產品品質。相同的優點更實現於多種應用與測試之中,例如:Xbox 360遊樂器搖桿、LEXMARK印表機噴頭、Lockheed Martin戰鬥機及BMW汽車引擎的電子等。經由系統模組化、軟體定義的方式,即為控制測試成本的基礎。透過軟體定義的測試系統,使用者可針對不斷變化的技術隨時更改軟體,以因應新量測作業或遭淘汰儀器控制的需求。 今年PXI儀器應用論壇,將針對各區不同的應用,分別針對以下主題來做探討:(1)如何利用多核心技術降低測試時間與成本;(2)PXI技術用於半導體和多媒體IC測試;(3)新一代PXI和PXI Express RF量測模組探討;(4)高效能FPGA元件整合至測試與控制應用。 只要是半導體和混合式訊號IC測試相關工程師、無線通訊研發人員、測試系統開發人員,或是自動化控制相關領域工程師,皆歡迎參加此次的活動。 美商國家儀器“ PXI儀器應用論壇”將與您一同探討如何繼續降低儀器成本,並在低迷的景氣環境,為產品創造更高附加價值!
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