爱德万测试 (Advantest Corporation) 推出针对NAND快闪记忆体之最新高产能记忆体测试机，在进行晶片功能测试的同时，亦提供高精确度的时序、可重复性与错误侦测。藉由比前代提高5倍以上的资料传输速度，最新设计的T5221系统不仅能提升生产效率，还能降低晶圆测试、内建自我测试 (BIST) 以及晶圆级预烧 (WLBI) 的测试成本。

爱德万测试最新多元功能、高产能测试解决方案，瞄准NAND/非挥发性快闪记忆体IC。

NAND多堆叠测试设备全球市场规模高达1亿美元，约占整体测试与封装市场的7%。随着市场持续扩张，客户也逐渐舍弃高功能性晶圆分类测试设备，转而拥抱成本效益更优异、采用多探头系统的可测试性设计 (DFT) 与BIST策略。

T5221已针对多晶圆针测机进行最佳化，其系统控制器能同时管理高达12个测试站，每一个都具备独立测试功能，而此合并阵列架构不仅大幅缩短测试时间，也透过大规模同测使这套系统最多能一次对1,152个元件进行晶圆级测试。

新系统的测试机是装载于多晶圆针测机上，因此不会增加厂区整体占地面积，也使T5221平台占用的空间，比爱德万测试先前推出的非挥发性记忆体测试机再加一台独立针测机还要节省。最新测试机于量产环境可以配备在12个测试站的多晶圆针测机上；亦可在工程环境上装载于单晶圆或双晶圆针测机。

T5221的探针卡设计已经过简化，借此降低持有成本与测试成本。该机台还具备整合性效能电路板，省掉在探针卡上装印刷电路板的需求。 T5221系统特色包括每一个受测元件都会有2个驱动接脚 (driver pin) 和1个I/O接脚，还有灵活弹性的演算码型产生器 (ALPG)、1个波型产生器和多种自我诊断功能。

T5221的表现范围可藉由升级做进一步强化，最高可将电源供应等级提升至28伏特，同时仍能测量低至1奈安培 (nA) 的微小电流。这些功能在许多竞争对手的产品中是找不到的。

这款最新测试机甚至还具备「绿色」 元素，注重环境友善的设计，在分开与拆解系统零件时不再使用有毒物质。 T5221的运作与爱德万测试旧有记忆体解决方案完全相容，使用者很容易就能从前代设备无缝接轨。

爱德万测试记忆体测试事业执行副总裁铃木雅之指出：「T5221平台的推出，符合爱德万测试为NAND晶圆级测试市场提供最新技术的策略。本系统凭借优异的硬体性能与资料传输速度，不论测试时间还是测试成本都比对手产品低上许多。」