对於高速设备检验，工程师最常遇到的困难大概可以区分成光与电两大部分。电的部分主要在於讯号完整性的测试，必须针对最基本的损失与反射特性进行验证。安立知在讯号完整性上，提供了完整的验证方式包含VNA即时模拟眼图与Jitter测试进行讯号完整性分析，另外也提供Intel Delta L方案以进行高速PCB量测。

安立知业务暨技术支援部??理林升鸿(右)、业务暨技术支援部专案??理程昭团(左)

事实上，即使是性能最高的PCB材料也存在损耗和失真，而对於高速缆线的传输部分则需要进行阻抗、偏斜（Skew）、串扰（FEXT、NEXT）和反射等测试。至於光的部分，主要挑战则在於光的量测如何进行VCSEL与photodiode的3Db频宽测试，另外还包括相位测试等。

安立知业务暨技术支援部??理林升鸿指出，针对高速设备检验的挑战，安立知（Anritsu）推出了快速、准确的光电测量VectorStar ME7848A-0200系列光电网路分析仪（ONA），透过使用了MN4765B O/E模组，便可启用对E/O和O/E错误校正後的传递函数、群组延迟和回波损耗测量组件与子系统等。

ONA最大的特色在於其模组式的系统架构。模组化和可升级性，让工程师只要透过添加适当的模组，就可以将ME7848A ONA更改为不同波长的MN4775A E/O转换器和MN4765B O/E校准检测器。MN4765B O/E是可以外加的弹性校准模组，O/E校准模组是光电二极管叁考标准检测器，该检测器具备热稳定的特性，能最大程度的降低温度漂移。而MN4775A E/O转换器则包括一个校准模组，该模组包含??酸锂（LiNbO3）调制器，可透过全自动偏置控制器以及可调或固定波长的雷射光源来加以稳定。转换器的稳定性可以确保在O/E DUT检测器和接收器的测量过程中保持一致的特性。

安立知业务暨技术支援部专案??理程昭团则表示，根据美国国家标准技术研究院表示，O/E的幅度和相位表徵校准模组使用NIST的主要标准，并保存在安立知的校准实验室中。而O/E模组内部的偏置，可保持对光电二极管的准确偏置电压。这部ONA仪器的其他优势还包括：内部VNA具备去嵌入功能、简化了校准程序，内置的应用程序选单可提供简易清楚的按步说明，对於进行E/O和O/E测量所需的设置和校准将更为容易。另外还有稳定性和可重复性，使用具有去嵌入功能的完整12项校准，可以稳定且重复性的使用VectorStar或是ShockLine VNA来进行光电设备的测量。

此外，若相同型号的VectorStar VNA可以在多个波长下使用，则无需购买额外的VNA。值得注意的还包括测量的灵活性，VectorStar VNA可以简便地在电气和光电测量之间切换。此外，12项校准能力可以应用於E/E、E/O和O/E设置，这使得它灵活且易於应用在所有高速设备测量。