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封测厂商积极寻找新技术
追求省成本高良率 竞争激烈

【CTIMES / SMARTAUTO ABC_1 报导】    2001年11月22日 星期四

浏览人次:【2391】

为了降低生产成本,半导体封装测试技术积极开发晶圆级测试技术,华泰电子借着转投资硅晶源掌握相关技术,欣铨科技则采独立研发方式,以节省成本及提高良率。

过去大部分的晶圆制造厂都是采取厂内测试,但随着封装测试厂商打出整套服务 (Turn Key Solution),整合组件大厂(IDM) 为了提升成本竞争力释放出相关订单,也让封装产业可以增加测试制程商机。

华泰电子财务处长李俊宽指出,将来的芯片级测试技术,将可摆脱制程设备汰换率过高的问题,且因为晶圆级测试是整片晶圆在制程产品以前就已经完成测试,若有晶圆坏片可以实时修补,不会在制程模块或产品以后损坏主系统。

欣铨电子则是独立研发芯片级测试技术,估计还要好一段时间才会进入商业应用。欣铨表示,晶圆级封装测试技术的概念已经提出相当长的时间,但还不到真正商业化的地步。旺宏指出,目前有许多晶圆制造商开始有外包的晶圆测试,如果晶圆级测试技术成熟,在晶圆厂内测试会比外包更具效益。

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