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未来半导体标准化着重EMC和三D封装议题
 

【CTIMES / SMARTAUTO ABC_1 报导】    2009年03月30日 星期一

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外电消息报导,电子信息技术产业协会(JEITA)半导体分会、半导体技术委员会与半导体封装产品技术专门委员会,日前举行了08年度的报告会议。会议中指出,执行标准化是为了解决EMC和3D封装的时间。

三个组织在会议中表示,如果不掌握半导体的EMC特性,确保电子产品的EMC性能,开发产品将变得非常困难。在EMC方面,系统商和半导体厂商在共享信息的基础上,针对半导体的EMC特性的测定方法和建模的标准化意义重大。活动的目的是确立半导体EMC特性的评测方法和仿真建模方法,推动EMC仿真工具的开发。

此外,在年度报告会上,电装公司也从ASIC厂商的角度,分析了EMC模型信息,并介绍了试制前问题的修改实例,并将噪声耐性提高至1.5倍。

而在半导体封装中,为了实现摩尔定律,各公司正在积极开发三D封装。同时,制定了PoP(package on package)层迭封装的相关设计指南、翻转测定方法及最大容许值的定义等。日后需要靠堆栈内存的更新、容量的标准化、内存的通用化及省略凸块间距(Bump Pitch)转接来降低成本。

至于DRAM内存的标准化,该会议也表示,将在2012年确立DDR4规格,并从09年度开始实施标准化作业。为此,08年度进行了需求调查。结果显示,设想用途依次为视讯、照片和语音。对于内存的要求,希望降低耗电量的厂商较多。希望待机耗电量降至0.1mW以下,运行时间小于30ns。内存的外形尺寸方面,要求减薄至0.5mm以下,约与现有的内存相当。

關鍵字: EMC  3D IC  JEITA 
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