是德科技协助锐迪科微电子加速进行NB-IoT晶片测试

RDA研发部副总裁Jingming Wang表示：「RDA一直与是德科技维持紧密的合作关系，是德科技提供的NB-IoT射频效能测试解决方案让我们的工程师能够尽快发现问题，如此可大幅加快我们的研发进度。RDA未来将与是德科技进行更深入的合作。」

是德科技（Keysight）日前宣布窄频物联网（NB-IoT）射频效能测试解决方案获锐迪科微电子（RDA）选用，协助该公司加快NB-IoT晶片组测试。

是德科技（Keysight）日前宣布窄频物联网（NB-IoT）射频效能测试解决方案获锐迪科微电子（RDA）选用，协助该公司加快NB-IoT晶片组测试。

NB-IoT是国际标准组织3GPP专为IoT设计的窄频蜂巢式无线技术。 NB-IoT的深度覆盖范围和超低的功耗，在晶片研发方面带来全新的挑战，工程师必须在新的运作模式下严密测试射频效能。在研发过程中，晶片制造商必须全面评估他们的产品在各种实际运作模式下的射频效能，以确保稳定的连接和完整的覆盖范围。

是德科技和RDA正就NB-IoT测试专案展开密切合作，以提供高品质的NB-IoT晶片组。藉由使用是德科技的NB-IoT测试解决方案，RDA可设定晶片组在不同的模式下运作，以便严密地测试其射频效能，进而加快整体开发进度。

是德科技无线晶片组事业群副总裁暨总经理Giampaolo Tardioli表示：「Keysight E7515A UXM无线测试仪可协助工程师量测晶片之射频效能。藉由与RDA等厂商合作，我们可提供完整且易于扩充的解决方案，让客户能更快地实现上市时间和成本目标。」