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TIMTOS 2017--Renishaw发表新款XM-60多光束校正仪
 

【CTIMES / SMARTAUTO ABC_1 报导】    2017年03月14日 星期二

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全球计量学专家Renishaw (雷尼绍)于第26 台北国际工具机展(TIMTOS 2017)展示全新XM-60多光束校正仪。 XM-60只需一次设定便能顺着线性轴的任何方向,量测所有六个自由度。相较于传统雷射量测技术,XM-60的操作更为简易省时。

Renishaw (雷尼绍)于第26 台北国际工具机展展示全新XM-60多光束校正仪。
Renishaw (雷尼绍)于第26 台北国际工具机展展示全新XM-60多光束校正仪。

Renishaw的专家团队包括Renishaw英国市场行销经理Dave Wall, Renishaw亚太区产品经理李立恒在[TIMTOS 2017快速提升工具机性能 迎接智慧制造新世代]研讨会中详细介绍 XM-60的优势。

随着市场对工件的公差需求日益严谨,制造商需考量工具机在生产工件时造成的所有误差源: 包括角度误差、线性与真直度误差。 XM-60只需一次设定便能撷取所有这些误差。 XM-60多光束校正仪专为工具机量测市场而设计,可补强Renishaw包含XL-80雷射系统、XR20-W旋转轴校正仪和QC20-W无线循圆测试仪等的校正产品线。 XM-60以XC-80环境补偿器作环境条件修正。

XM-60多光束校正仪提供高度精确的雷射系统,内含专利光学侧转角量测和光纤启动系统的独特技术。轻巧的发射端远离雷射源,有效降低量测点的热效应。可直接装在机器一侧上、反过来装或装在背面,对难以靠近机器的区域特别有益。

降低量测不确定性对于任何使用者都至关重要。 Renishaw XM-60是专为可直接量测工具机误差而设计,有效降低量测不准确性 - 这些不准确性会因为有些量测技术替代方案中使用的复杂数学计算而产生。透过使用者现有的 XL-80 量测用零件程式,直接量测使得工具机调整前后的比较变为快速且简单的工作。接收器以无线操作并由充电电池供电,在工具机移动时避免被电缆线绊倒而造成量测不准确,或中断雷射光束。

每一台XM-60 多光束校正仪都可依据国际标准追溯效能,而且每一台也都在运输前先经过认证,确保雷射系统日复日在生产现场均能提供所需的精度,让使用者更具信心。

为了支援 XM-60 多轴校正仪的推出,Renishaw 亦将推出 新版本CARTO 套装软体,在量测过程中为使用者导引工作流程。 CARTO 2.0包含Capture和Explore应用程式,已能为XL-80雷射干涉仪提供资料撷取及分析功能。 CARTO使用者介面可轻松配置以符合使用者偏好,能够变更主题,并且自订显示。 CARTO与平板电脑相容,并且有可扩充的功能表区段,可在小萤幕上轻松使用; 使用者可自动储存测试方法,需重复测试的使用者可轻易地调用先前的测试。

Capture 2.0功能包括:全新零件程式产生器、支援 Fanuc 30、Heidenhain 530、Mazak Matrix和 Siemens 840D 控制器,下一版还有更多功能。 Capture 2.0具有进阶功能,可以依据使用者所选择的平均周期自动设定程式的暂留时间,还具有「匹配时间」模式,可在使用 XL-80 系统时,协助进行基于时间的撷取。在 XM-60 模式中,Capture 2.0 使用校正仪的真直度量测功能改良其易用性。

XM-60提供功能强大的诊断功能,这是经由「单发」方式,透过量测所有自由度来提供。藉由在任何量测期间撷取三种线性和三种旋转误差源,使用者可发现其误差来源,而不是通常只在进行线性量测时才看到的效应。所有数据处理都是藉由 Explore 2.0 应用程式来进行,此应用程式提供六个自由度的误差数据摘要检视图,每笔数据都可以依照各类国际标准来显示。此等大量数据之管理也是在 Explore 2.0 里轻松进行。可将使用者定义标记指定到数据库中储存的任何测试、或测试群组,接着可藉由这些标记来筛选数据。

XM-60 多轴校正仪连同坚固的Peli系统箱中销售,Peli系统箱亦可容纳配件和 XC-80 补偿器套件。 Peli系统箱箱的设计确保可安全存放并且运输雷射系统,而且在许多应用中,雷射单元可在量测期间保持于此箱中,从而简化设定。选配的夹持套件可有助于将 XM-60 安装到机台,装在手提箱中便于运输。

關鍵字: 多光束校正仪  Renishaw  Renishaw  TIMTOS 2017  工具机展  製程材料類 
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