可编程逻辑控制器、秤重和自动测试设备等工业设备，对更高解析度和速度的讯号链需求逐渐攀升，对高精密度放大器的需求也跟着增加，因为在这类讯号链中，高精密度放大器可当作类比转数位转换器(ADC)驱动器和电压叁考缓冲器来使用。

OPA2182和非截波放大器OPA2140的零点漂移比较。

常用於这类系统内的截波放大器，是一种零漂移运算放大器(op amp)，且无论配置为何，其内部拓扑结构都可将放大器的偏移降至最低，因此具有极低的偏移电压。如此一来，偏移误差也会变得极低(偏移、飘移、共模拒斥比[CMRR]、电源供应拒斥比[PSRR]和开环电压增益[Aol])。

这个拓扑结构的另一项优点，在於放大器会将低频率杂讯视为DC错误(因此可将其降至最低)，所以此拓扑结构具有平坦的1/f，也就是闪烁杂讯。诸如精密温度监控、惠斯登电桥(Wheatstone bridge)量测和电压叁考缓冲器等，都需要在DC与数十千赫等多种频率之间实现高精密度的应用，因此对这类应用来说，截波放大器会是极为理想的选择。

德州仪器指出，在设计精密讯号链时常见两种设计挑战，但也有克服这些挑战的相应方法。

首先，要将不同温度间的偏移误差减至最少。德州仪器表示，设计精密讯号链时，面临的最大挑战之一，就是需将ADC驱动器和叁考缓冲器所导致的偏移误差降至最低。虽然在生产期间执行校准，可以改善偏移、CMRR、PSRR和Aol性能，但是偏移电压漂移的校准作业却相当困难，且所费不赀。

此作业需要改变生产时的系统温度，或加入校准环路，导致系统尺寸和物料清单数量皆随之增加。相较於对零点漂移进行校准，由於截波放大器固有的零点漂移性能偏低，因此使用截波放大器有助於解决前述问题。

然而，新一代的截波放大器却存在一项全新的问题，会限制这类装置达到更隹的零点漂移性能。这种问题称为「赛贝克效应」(Seebeck effect)，属於热电偶效应的一部分。赛贝克效应是在温度梯度中产生电位的情况，当放大器在运作期间自热时，会自然发生赛贝克效应，在环境温度下也会如此。若装置内从接脚到放大器核心之间的讯号通道使用相异的金属，前述梯度就会增加。

TI发现此限制，并以不同金属进行广泛的实验後，找出了一种材料组合，可生产OPA2182，此产品在从-40。C到+125。C的完整温度范围中，最大零点漂移仅有12nV/。C。

另一项设计挑战，是如何快速且正确地让ADC输入处的讯号达到安定。对於为了节省基板空间和系统成本，而在讯号链输入处使用多工器的系统而言，安定作业格外困难。当多工器切换通道时，ADC驱动器可能会出现步阶输入，此时切换式输入就会产生前述问题。

许多放大器之间的反平行二极体皆互相连接，以提供防护。受到步阶响应影响时，输入将不再处於大致相等的状态(如同在正常运作下)，且其中一个反平行二极体会变成正向偏压，从一个输入将电流汲取至另一个输入。前述电流会流经多工器和讯号来源，导致安定响应延後。

为了改善放大器的安定时间，TI在装置中加入可搭配多工器(MUX)使用的输入，例如在OPA2182中即加入了这类输入。这项具专利的结构可免除使用反平行二极体，同时因为不会有错误电流流经讯号来源和多工器，所以放大器能更快速地安定至步阶输入。

虽然在设计精密讯号链时存在许多挑战，不过如OPA2182等截波放大器皆具有更隹的零点漂移性能和可搭配MUX使用的输入，因此可协助简化设计。