美商吉時利儀器（Keithley Instruments）宣布推出3.2版的ACS（Automated Characterization Suite）軟體，支援半導體元件測試，以及元件、晶圓、晶舟層級特性分析的功能。全新推出的3.2版本加入了強大的多部位並行測試（multi-site parallel test）能力，大幅提昇ACS整合式測試系統的自動化功能，除適用於晶粒分類與新型晶圓層級座標定位等應用，也能支援Keithley新款具備1fA電流量測解析度的Models 2635與2636 System SourceMeter儀器。這些新功能組成一個符合高測試彈性與產能速度，且極具價格效益的測試解決方案，同時此方案也適用於實驗室和生產設定等無人操作的環境。