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[CTIMES╳安馳] 打造更高整合ATE方案 解決IC設計當務之急
 

【CTIMES/SmartAuto 王岫晨 報導】   2020年06月30日 星期二

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自動測試設備(ATE)是指用於檢測電子元件功能完整性的相關裝置儀器設備。這些測試裝置透過訊號的產生與擷取,並捕捉元件的回應來檢測元件的品質與特性是否良好。在半導體元件的生產過程中,ATE測試通常為晶片製造最後的一道關鍵流程,用於確保晶片的品質良好。

安馳科技ADI產品線應用工程經理高富華
安馳科技ADI產品線應用工程經理高富華

安馳科技ADI產品線應用工程經理高富華指出,對於需要高性能、高性價比的IC自動測試應用,ADI可以提供更高度整合的引腳電子元件(PE)、元件電源(DPS)和參數測量單元(PMU)等。這些特定針對ATE應用的產品,以及ADI標準方案的各種組合(包括MEMS開關、高性能轉換器和RF收發器等)都,能夠在負載板中提供滿足最新測試要求的各種自動測試解決方案。

高富華說,以目前ADI主要的市場,可分為訊號SOC的應用(包含MCU的測試),以及RF測試量測等。ADI提供了AD936X系列射頻收發器,這是針對一系列完整的無線電所設計的單晶片解決方案,整合多種功能包括一個射頻前端、混合信號基頻、頻率合成器、模數轉換器和直接變頻接收器等,工作頻率範圍覆蓋可從70MHz到6GHz。可以說在RF晶片測試中,ADI已經解決了最困難的射頻前端挑戰。後端只要用FPGA來進行資料的擷取與分析,即可實現RF測試。

對於ATE結合AI的議題,高富華認為,關鍵在於找出IC測試領域中,能真正發現問題,且測項也最少的參數,這就必須透過數據的整合與分析,若能與AI進行結合,就可以清楚知道哪個測項在量產過程中,可以用最快速與最少的測項,來得到最經濟的測試成效。這就必須透過測試系統與後台雲端資料來進行結合。

事實上,ATE一般是針對電信訊號來進行量測,而對於智能化工廠來說,更需要對於壓力、機械特性與溫度、震動等要求,都會影響到測試的品質與結果。以ADI目前所提供的CbM解決方案,正是用於智能工廠中的各種感測需求所打造,來提供更好的測試品質。

關鍵字: 安馳科技 
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