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力旺嵌入式非揮發性記憶體已完成可靠度驗證
 

【CTIMES/SmartAuto 林佳穎 報導】   2011年07月18日 星期一

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力旺電子(ememory)於日前宣佈,其單次可程式記憶體NeoBit技術,已順利於台積公司80奈米高電壓製程完成可靠度驗證,並已成功導入客戶之高畫質顯示驅動晶片,將應用於下一世代智慧型手機。隨著手機應用不斷演進,更高畫質的顯示螢幕將是未來智慧型手機產業決勝的重要關鍵因素。

力旺電子表示,單次可程式記憶體NeoBit於台積公司80奈米高電壓製程上展現卓越的可用性,提供高畫質顯示驅動晶片進行螢幕參數設定的功能,協助調校螢幕畫面色彩;另外,此項技術可提高影像銳利度,使畫質更清晰。迄今,力旺電子已量產超過相當於兩百六十萬片內含NeoBit技術之八吋晶圓。

台積公司設計建構行銷處處長Suk Lee表示,非常高興力旺電子藉由台積公司80奈米高電壓製程的技術優勢,以高可靠度之嵌入式非揮發性記憶體技術,來協助客戶成功創造出高整合度之智慧型手機高畫質顯示驅動晶片。此次成果正是另一個成功的例子,說明台積公司的開放創新平台,是如何幫助IP夥伴為共同客戶實現創新並創造最大價值。

關鍵字: 非揮發性記憶體  80奈米  力旺 
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