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愛德萬測試:5G NR先進應用大幅推升記憶體市場需求成長
 

【CTIMES/SmartAuto 王岫晨 報導】   2020年10月22日 星期四

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在今天,5G NR與先進節點的發展,正成為長期驅動半導體產業前進的最重要力量。而5G NR的先進應用,更大幅推升了記憶體的市場需求量快速成長。隨著5G技術時代來臨,全球DRAM位元消耗預估將在2023年近乎翻倍,而此波需求成長背後的主要推手,正是持續成長的資料處理和行動通訊市場,不僅資料中心要求更多記憶體,智慧型手機解析度升級、新增摺疊功能和多鏡頭設計等也是原因。隨著記憶體IC平均售價持續縮水,半導體製造廠不可免的需要另闢蹊徑,縮減測試成本、擴大產量。

愛德萬測試最新H5620/H5620ES記憶體測試機
愛德萬測試最新H5620/H5620ES記憶體測試機

愛德萬測試 (Advantest Corporation)針對記憶體的測試需求,發表最新多功能、高產能H5620記憶體測試機,能針對DRAM和LPDDR (低功耗雙存取同步動態隨機存取記憶體) 裝置進行預燒及記憶體單元測試。H5620在生產環境中,能以100MHz頻率和高達200Mbps的資料傳輸率,平行測試超過1.8萬個元件。此外,H5620能因應工廠自動化需求,還有具備個別熱控制穩定度的雙溫箱結構,支援從-10°C到150°C大溫度範圍測試。不僅如此,新系統結合原有記憶體單元測試與記憶體生產設備的預燒測試流程,不僅有助客戶降低資本支出,也能節省工廠空間。

H5620使用具備多元工具組合的FutureSuite作業系統。有了這套軟體,測試機很容易能與愛德萬測試原本的記憶體測試系統相容。另外,愛德萬測試全球支援網也能立即提供客戶在程式編碼、除錯、關聯性分析和維修等方面的協助。

在此同時,愛德萬測試也推出最新的多功能H5620ES工程測試系統,針對現今實驗室環境DDR4、次世代DDR5和低功率LPDDR裝置進行高速預燒及測試,為H5600記憶體測試機家族再添生力軍。由於精簡配件數量、縮短預燒及測試之間所需的時間,最新H5620ES大幅降低5G應用先進記憶體裝置的測量成本。新款測試機跟H5620 一樣具備生產力,能針對DDR4和DDR5進行平行測試,並容納頻率100MHz、資料傳輸率200Mbps的記憶體IC。這套工程系統已針對產品開發工作進行使用優化,其精巧的設計能節省空間讓實驗室環境更機動,再加上頂部開放的機體設計很容易執行取放作業,不用先移開裝置界面板 (DIB)。

H5620ES跟H5620生產單元都採用FutureSuite作業系統,因此測試波形相同。它也支援預先測試 (pre-testing routines),譬如在轉移到H5620測試機以前,先在H5620ES系統進行檢查 ,藉以縮短生產週期時間。

關鍵字: 5G NR  愛德萬測試 
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