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NI引進半導體 ATE數位功能至 PXI
 

【CTIMES/SmartAuto 編輯部 報導】   2016年11月15日 星期二

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NI國家儀器推出 NI PXIe-6570 數位波形儀器與 NI Digital Pattern Editor。此產品讓RFIC、電源管理 IC、MEMS 裝置與混合訊號 IC 的製造商不再受限於傳統半導體自動化測試設備 (ATE) 的封閉架構。

數位儀器提供智慧型半導體測試系統開發所需的軟硬體功能
數位儀器提供智慧型半導體測試系統開發所需的軟硬體功能

最新半導體裝置的需求不斷超出傳統 ATE 的測試範圍。藉由引進半導體產業所建立的數位測試範例至 半導體測試系統 (STS) 採用的開放式 PXI 平台中,並運用強大好用的波形編輯器與除錯工具加以改良,使用者便能利用最先進的 PXI 儀器減少測試成本,並提升 RF 與類比?主 IC 的傳輸率。

「PXI Digital Pattern Instrument 對STS而言相當重要,此儀器提供工程師他們原先以?僅有高階數位測試平台才具備的所有數位功能。」NI 半導體測試副理 Ron Wolfe 如此表示:「產線上的 PXI 只要具備此項功能,工程師便能滿足先進裝置在價格與測試上的需求,並且輕鬆套用至自身目錄的其他產品。」

NI PXIe-6570 數位波形儀器針對無線裝置供應鏈與物聯網裝置上常見的 IC,提供所需的測試功能與實惠的價格 (以每針腳計算)。此儀器運用獨立電源與擷取引擎,能夠以每秒 100 MVector 的速度執行波形,並且具備可在單一子系統中達成高達 256 個同步數位針腳的電壓/電流參數函式。使用者能夠利用 PXI 與 STS 的開放特性,依據需求新增無限多個裝置,藉以達成測試設定的針腳與地點數量需求。

全新 Digital Pattern Editor 軟體整合數位 pin map 的編輯環境、規格與波形,進而能以更快的速度開發測試計畫;多點與多重儀器波形激發等內建工具,可順暢從開發擴展至生產;shmoo plot 等工具與互動式 pin view 則可提升除錯與優化測試的效率。

使用相同的PXI硬體、TestStand、LabVIEW與Digital Pattern Editor 軟體執行特性測試與生產測試有助減少簡化資料關聯流程,幫助使用者縮減上市時間。PXI 硬體的小巧機身,不論是否包含在 STS 設定內,皆可節省產線空間並能以特性測試實驗室機台的標準電源運作。

「PXI確實是一套相當罕見的軟硬體組合,不論在產線還是在特性生產實驗室皆能順利運作。」Wolfe 繼續表示:「NI 數位波形儀器與 Digital Pattern Editor 所提供的重要創新能夠幫助裝置製造商與測試廠商降低測試成本並提升測試程式的開發作業。」

半導體公司現正採用NI平台與生態系統來建造智慧型測試系統。 除了可立即用於生產的 STS 系列之外,1 GHz 頻寬的向量訊號收發器 (VST)、fA 系列電源量測單元與 TestStand Semiconductor Module,這些系統皆受惠於 DC、mmWave 等 600 多種 PXI 產品。VST 結合時序與觸發功能,透過 PCI Express Gen 3 匯流排介面與亞毫微秒等級的同步化功能,達成高速資料傳輸。 利用 LabVIEW 的產能、TestStand 的軟體環境、合作夥伴構成的活躍生態系統、附加 IP 與應用工程師,便能降低測試成本、縮短產品上市時間,並確保測試器能夠因應 RF 與混合訊號嚴苛的測試需求。

關鍵字: 數位波形儀器  ATE  RFIC  電源管理IC  MEMS(微機電混合訊號IC  NI  國家儀器  零件測試儀器  測試系統與研發工具  半導體製造與測試 
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