因應IC設計在亞洲的蓬勃發展,工研院主辦的第二屆國際超大型積體電路設計、自動化暨測試研討會(2006 VLSI-DAT)在新竹國賓舉行。專題演講與來自全球共72篇突破性技術論文,吸引來自歐美日等17國300餘位專業人才與會,共同切磋分享全球IC設計最新技術與發展。
2006 VLSI-DAT首先登場的是三位國際重量級場大師級的專題演講,分別由加州大學教授Daniel D. Gajski主講系統層次設計的新策略(New Strategies for System Level Design)、日本STARC公司總裁Katsuhiro Shimohigashi主講奈米時代的挑戰與機會(DFM in Perspective - A Challenge and Opportunity in Nanometer Era),以及BenQ的技術副總Bruno Thuillier主講大型積體電路與行動化(VLSI & Mobility)。積體電路邁入奈米製程的晶片系統時代,設計方法必須跟著進步,系統層次設計策略可以大幅提昇設計生產力與速度;可量產設計(DFM)則可確保晶片良率與品質;而積體電路做為行動應用的關鍵技術則在BenQ的演講中剖析。
在論文發表方面,2006 VLSI-DAT從來自14國191篇論文中精選出72篇,這三天發表的論文在IC設計上有許多突破與特色,將對未來的產品應用上有極大的影響力,內容涵蓋類比技術領域、數位視訊和通訊領域、無線通訊領域、系統層次整合領域、嵌入式系統、設計自動化與積體電路測試。所有論文都將被蒐錄於IEEE Digital Library。
另外,本屆大會在第一天下午開闢一場由國內IC設計廠商發表最新技術研發成果的產業論壇,參與的廠商包括聯發科、凌陽、瑞昱、思源、威盛與矽創,除提供國內外業界相關領域人士交流機會外,也藉此互動在競爭中找到合作的契機。