對於高速設備檢驗，工程師最常遇到的困難大概可以區分成光與電兩大部分。電的部分主要在於訊號完整性的測試，必須針對最基本的損失與反射特性進行驗證。安立知在訊號完整性上，提供了完整的驗證方式包含VNA即時模擬眼圖與Jitter測試進行訊號完整性分析，另外也提供Intel Delta L方案以進行高速PCB量測。

安立知業務暨技術支援部副理林昇鴻(右)、業務暨技術支援部專案副理程昭團(左)

事實上，即使是性能最高的PCB材料也存在損耗和失真，而對於高速纜線的傳輸部分則需要進行阻抗、偏斜（Skew）、串擾（FEXT、NEXT）和反射等測試。至於光的部分，主要挑戰則在於光的量測如何進行VCSEL與photodiode的3Db頻寬測試，另外還包括相位測試等。

安立知業務暨技術支援部副理林昇鴻指出，針對高速設備檢驗的挑戰，安立知（Anritsu）推出了快速、準確的光電測量VectorStar ME7848A-0200系列光電網路分析儀（ONA），透過使用了MN4765B O/E模組，便可啟用對E/O和O/E錯誤校正後的傳遞函數、群組延遲和回波損耗測量組件與子系統等。

ONA最大的特色在於其模組式的系統架構。模組化和可升級性，讓工程師只要透過添加適當的模組，就可以將ME7848A ONA更改為不同波長的MN4775A E/O轉換器和MN4765B O/E校準檢測器。MN4765B O/E是可以外加的彈性校準模組，O/E校準模組是光電二極管參考標準檢測器，該檢測器具備熱穩定的特性，能最大程度的降低溫度漂移。而MN4775A E/O轉換器則包括一個校準模組，該模組包含鈮酸鋰（LiNbO3）調製器，可透過全自動偏置控制器以及可調或固定波長的雷射光源來加以穩定。轉換器的穩定性可以確保在O/E DUT檢測器和接收器的測量過程中保持一致的特性。

安立知業務暨技術支援部專案副理程昭團則表示，根據美國國家標準技術研究院表示，O/E的幅度和相位表徵校準模組使用NIST的主要標準，並保存在安立知的校準實驗室中。而O/E模組內部的偏置，可保持對光電二極管的準確偏置電壓。這部ONA儀器的其他優勢還包括：內部VNA具備去嵌入功能、簡化了校準程序，內置的應用程序選單可提供簡易清楚的按步說明，對於進行E/O和O/E測量所需的設置和校準將更為容易。另外還有穩定性和可重複性，使用具有去嵌入功能的完整12項校準，可以穩定且重複性的使用VectorStar或是ShockLine VNA來進行光電設備的測量。

此外，若相同型號的VectorStar VNA可以在多個波長下使用，則無需購買額外的VNA。值得注意的還包括測量的靈活性，VectorStar VNA可以簡便地在電氣和光電測量之間切換。此外，12項校準能力可以應用於E/E、E/O和O/E設置，這使得它靈活且易於應用在所有高速設備測量。