帳號:
密碼:
最新動態
產業快訊
CTIMES/SmartAuto / 新聞 /
聯電採用安捷倫完整參數解決方案
 

【CTIMES/SmartAuto 楊青蓉 報導】   2003年04月23日 星期三

瀏覽人次:【2167】

安捷倫科技公司22日表示,聯電已選中安捷倫科技4070|300來建置他們的300mm晶圓參數測試的自動化作業。4070|300及半導體製程評估核心軟體-工廠自動化,為聯電提供了可靠度及300 mm晶圓製造所需的效能能力。此外,安捷倫也獲得聯電的傑出供應商獎。

聯電12吋晶圓廠部門經理Charlie Lee表示,「300 mm晶圓的製造產生了獨特的測試需求,包括絕佳的可靠度、針對工廠自動化提供工業標準支援、以及一流的工程支援。安捷倫科技4070|300參數測試解決方案是一個可靠且經產業證明有效的解決方案,能滿足我們所有的測試需求。」

4070|300在測試站使用DC量測資源,並透過智慧型量測範圍控制將掃描量測的速度提升30%或更高,以達到最大的準確度與產能。4070|300解決方案支援所有目前的SEMI自動化標準,可縮短將4070|300整合到整個300 mm工廠環境所需要的時間,以降低聯電的成本。安捷倫重要的SPECS參數測試環境的工廠自動化版本SPECS-FA,已針對自動化的工廠環境進行優化,而它的軟體介面則可完全支援SEMI標準E5和E30。

安捷倫日本八王子半導體測試部門的業務經理Kenzo Ishiguro指出,「安捷倫科技4070|300特別強調安捷倫持續解決客戶所面對的挑戰,並為他們提供準確且高度自動化的測試解決方案的承諾。我們很榮幸能夠獲得UMC的傑出供應商獎,並將繼續努力以提供更好的測試解決方案與支援服務。」

關鍵字: 安捷倫科技  Charlie Lee  測試系統與研發工具 
相關新聞
Agilent:非信令序列測試解決行動通訊測試挑戰
量測市場下一場競賽:創新與商品化能力
安捷倫將購併RedSwitch
Haigh-Farr選中安捷倫科技的先進設計系統
安捷倫科技邏輯和頻譜分析儀雙雙獲獎
相關討論
  相關文章
» 最佳化大量低複雜度PCB測試的生產效率策略
» 確保裝置互通性 RedCap全面測試驗證勢在必行
» ESG趨勢展望:引領企業邁向綠色未來
» 高階晶片異常點無所遁形 C-AFM一針見內鬼
» 高速傳輸需求飆升 PCIe訊號測試不妥協


刊登廣告 新聞信箱 讀者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 遠播資訊股份有限公司版權所有 Powered by O3  v3.20.2048.3.138.105.128
地址:台北數位產業園區(digiBlock Taipei) 103台北市大同區承德路三段287-2號A棟204室
電話 (02)2585-5526 #0 轉接至總機 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw