自動測試設備（ATE）是指用於檢測電子元件功能完整性的相關裝置儀器設備。這些測試裝置透過訊號的產生與擷取，並捕捉元件的回應來檢測元件的品質與特性是否良好。在半導體元件的生產過程中，ATE測試通常為晶片製造最後的一道關鍵流程，用於確保晶片的品質良好。

安馳科技ADI產品線應用工程經理高富華

安馳科技ADI產品線應用工程經理高富華指出，對於需要高性能、高性價比的IC自動測試應用，ADI可以提供更高度整合的引腳電子元件（PE）、元件電源（DPS）和參數測量單元（PMU）等。這些特定針對ATE應用的產品，以及ADI標準方案的各種組合（包括MEMS開關、高性能轉換器和RF收發器等）都，能夠在負載板中提供滿足最新測試要求的各種自動測試解決方案。

高富華說，以目前ADI主要的市場，可分為訊號SOC的應用（包含MCU的測試），以及RF測試量測等。ADI提供了AD936X系列射頻收發器，這是針對一系列完整的無線電所設計的單晶片解決方案，整合多種功能包括一個射頻前端、混合信號基頻、頻率合成器、模數轉換器和直接變頻接收器等，工作頻率範圍覆蓋可從70MHz到6GHz。可以說在RF晶片測試中，ADI已經解決了最困難的射頻前端挑戰。後端只要用FPGA來進行資料的擷取與分析，即可實現RF測試。

對於ATE結合AI的議題，高富華認為，關鍵在於找出IC測試領域中，能真正發現問題，且測項也最少的參數，這就必須透過數據的整合與分析，若能與AI進行結合，就可以清楚知道哪個測項在量產過程中，可以用最快速與最少的測項，來得到最經濟的測試成效。這就必須透過測試系統與後台雲端資料來進行結合。

事實上，ATE一般是針對電信訊號來進行量測，而對於智能化工廠來說，更需要對於壓力、機械特性與溫度、震動等要求，都會影響到測試的品質與結果。以ADI目前所提供的CbM解決方案，正是用於智能工廠中的各種感測需求所打造，來提供更好的測試品質。