帳號:
密碼:
最新動態
產業快訊
CTIMES/SmartAuto / 新聞 /
[CTIMES╳安馳] 打造更高整合ATE方案 解決IC設計當務之急
 

【CTIMES/SmartAuto 王岫晨 報導】   2020年06月30日 星期二

瀏覽人次:【4066】

自動測試設備(ATE)是指用於檢測電子元件功能完整性的相關裝置儀器設備。這些測試裝置透過訊號的產生與擷取,並捕捉元件的回應來檢測元件的品質與特性是否良好。在半導體元件的生產過程中,ATE測試通常為晶片製造最後的一道關鍵流程,用於確保晶片的品質良好。

安馳科技ADI產品線應用工程經理高富華
安馳科技ADI產品線應用工程經理高富華

安馳科技ADI產品線應用工程經理高富華指出,對於需要高性能、高性價比的IC自動測試應用,ADI可以提供更高度整合的引腳電子元件(PE)、元件電源(DPS)和參數測量單元(PMU)等。這些特定針對ATE應用的產品,以及ADI標準方案的各種組合(包括MEMS開關、高性能轉換器和RF收發器等)都,能夠在負載板中提供滿足最新測試要求的各種自動測試解決方案。

高富華說,以目前ADI主要的市場,可分為訊號SOC的應用(包含MCU的測試),以及RF測試量測等。ADI提供了AD936X系列射頻收發器,這是針對一系列完整的無線電所設計的單晶片解決方案,整合多種功能包括一個射頻前端、混合信號基頻、頻率合成器、模數轉換器和直接變頻接收器等,工作頻率範圍覆蓋可從70MHz到6GHz。可以說在RF晶片測試中,ADI已經解決了最困難的射頻前端挑戰。後端只要用FPGA來進行資料的擷取與分析,即可實現RF測試。

對於ATE結合AI的議題,高富華認為,關鍵在於找出IC測試領域中,能真正發現問題,且測項也最少的參數,這就必須透過數據的整合與分析,若能與AI進行結合,就可以清楚知道哪個測項在量產過程中,可以用最快速與最少的測項,來得到最經濟的測試成效。這就必須透過測試系統與後台雲端資料來進行結合。

事實上,ATE一般是針對電信訊號來進行量測,而對於智能化工廠來說,更需要對於壓力、機械特性與溫度、震動等要求,都會影響到測試的品質與結果。以ADI目前所提供的CbM解決方案,正是用於智能工廠中的各種感測需求所打造,來提供更好的測試品質。

關鍵字: 安馳科技 
相關新聞
ADI出掌上型設備 助中華大學電子學實驗課程提升學習效益
ADI與安馳科技將於12/2舉辦品牌博覽會
[自動化展] 安馳與ADI合作 將人工智慧帶入工業控制場域
ADI與安馳聯手 透過M2K新書挹注產學能量
[自動化展] 安馳科技以ADI解決方案實現智慧工業應用
comments powered by Disqus
相關討論
  相關文章
» 開啟邊緣智能新時代 ST引領AI開發潮流
» ST以MCU創新應用潮流 打造多元解決方案
» ST開啟再生能源革命 攜手自然迎接能源挑戰
» ST引領智慧出行革命 技術創新開啟汽車新紀元
» ST:精準度只是標配 感測器需執行簡單運算的智慧功能


刊登廣告 新聞信箱 讀者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 遠播資訊股份有限公司版權所有 Powered by O3  v3.20.2048.3.85.63.190
地址:台北數位產業園區(digiBlock Taipei) 103台北市大同區承德路三段287-2號A棟204室
電話 (02)2585-5526 #0 轉接至總機 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw