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科雅(Goya)採用Mentor可測試設計工具
 

【CTIMES/SmartAuto 蘇沛榕 報導】   2002年12月23日 星期一

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Mentor Graphics於12月18日宣佈,科雅科技(Goyatek Technology)已採用它的可測試設計(DFT)工具,做為科雅可測試設計服務流程標準。Mentor的MBISTArchitect記憶體內建自我測試工具和BSD Architect邊界掃描自動化工具都是技術領先產品,可協助科雅持續加強他們的可測試設計能力,這也是科雅選擇它們的主要原因。

科雅是以台積電為基礎的SoC/ASIC設計製造代工服務(Turnkey Service)和IP矽智財供應商,擁有傑出工程能力來支援台積電先進製程技術,並以此廣獲業界認可,在台積電設計服務聯盟中,科雅是第一家同時支援和完成0.18及0.25微米設計的廠商;由於科雅必須支援這些複雜的設計製程技術,他們的客戶又會使用各種不同設計流程,因此科雅需要更強大的可測試設計工具,以便提供更高的測試覆蓋率、彈性和創新的全速(at-speed)測試能力,確保客戶得到更準確測試結果,進而提升最終產品的品質。

科雅CAD部門主管Nai-Yin Sung表示,他們必須支援複雜設計流程和矽智財,因此需要最先進工具和測試技術。Mentor GraphicsR擁有業界最好的可測試設計工具,它們又可加入任何設計流程,這對科雅和客戶都非常重要。MBISTArchitect和BSDArchitect工具為科雅帶來一組完整功能,使他們得以節省時間,提供最高的測試品質。

MBISTArchitect工具包含MBIST Full-Speed功能,它採用Mentor正在申請專利的管線化處理技術,可同時把測試資料輸入目標系統、從目標系統讀取這些資料、並且比較執行結果,使傳統的「全速」測試能更快完成;這項功能可大幅縮短測試應用時間,使測試資料的重複使用性更高,並產生更高品質的測試結果。BSDArchitect工具可將邊界掃描電路的實作自動化,大幅減少研發過程的所須時間;這套工具還包含彈性的測試存取埠合成引擎,可支援任何邊界掃描組態,徹底測試元件的內部結構,例如記憶體內建自我測試、嵌入式核心和矽智財。

關鍵字: 明導國際(Mentor Graphics科雅科技  Nai-Yin Sung  EDA 
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