由於汽車需要超高水平的可靠性和安全性，汽車行業正在為晶片的「零缺陷」（Zero Defects）設定更嚴格的目標。「零缺陷」是指行業可接受的缺陷水平，為汽車公司提供交鑰匙ASIC設計和製造的Sondrel報告稱，他們的規範正在從每百萬缺陷(defects per million；DPM)轉變為每十億缺陷(defects per billion；DPB)。

Sondrel工程主管Ed Loverseed解釋：「零缺陷是一個目標，目標是在製造過程中不斷減少缺陷，並在產品到達客戶之前通過測試盡可能多消除缺陷組件。運送給客戶的缺陷程度與消除故障組件所花費的時間和金錢成反比。因此，挑戰在於擷取有缺陷的零件所投入的時間和金錢，與由此產生的缺陷水平之間找到經濟平衡，亦即質量成本。

「要考慮的成本不僅是培訓、測試、報廢和返工等顯而易見的成本，還包括在確定測試預算水平時應考慮到的現場處理缺陷零件的可能成本。確定零件在現場出現故障的原因涉及大量的偵查工作，以查明它是隨機事件還是表明批次問題會導致代價高昂的召回，這就是為什麼汽車零件對組件具有非常高水平的審計追蹤，以便盡可能少的汽車被召回。」

Loverseed根據Sondrel多年來為汽車客戶製造這些晶片的經驗，提供一些可能導致客戶退貨的真實場景例子。

一是客戶在測試傳入晶片時的故障，原因很簡單，就是由於他們的自動測試設備出現故障，導致電氣過應力或靜電放電。顯然，這只會出現在客戶的網站上，並且很容易追?和修復。

二是難以追蹤的，當零件通過生產測試但在客戶的應用程序中失敗時。原因可能是測試沒有拒絕僅勉強通過的零件，或者在與客戶達成一致的測試制度中遺漏了測試的某個方面。

三是潛在缺陷，即設備在客戶的生產線或現場應用中按預期運行，然後突然失效。這是最壞的情況，特別是如果問題可以追溯到與晶圓廠相關的問題，這可能會導致大量客戶退貨，而無法快速預測哪些批次的零件可能會出現故障，因為需要時間進行詳細的數據分析。

Sondrel專注於從事複雜數位ASIC的設計和製造，作為完整的交鑰匙服務，因此負責整個過程，包括實現客戶的零缺陷要求。「雖然汽車客戶正在引領DPB的發展，但我們現在正在利用我們為幫助實現這一目標而開發的技能，為其他行業的客戶提供更低的缺陷水平，」Loverseed補充道。「這使我們在贏得專門從事的大型複雜 IC項目方面具有競爭優勢，因為減少了製造中的缺陷，減少浪費，並降低客戶的每晶片價格的整體成本。」

關於汽車電子委員會AEC -Q104文件資訊，請瀏覽網址:http://www.aecouncil.com/Documents/AEC-Q104_Rev-.pdf