美商國家儀器（NI）第八屆大中華PXI技術與應用論壇5月18日於台北六福皇宮盛大登場。來自不同產業界的代表廠商，在現場人潮洶湧的實際應用展示區內，百花齊放地呈現了以PXI模組化儀控設備和LabVIEW軟體為核心、有效提昇自動化測試效能的最新成果。從電源供應、光學鏡頭到LED晶圓生產設備，NI的PXI模組化軟硬體平台扮演著舉足輕重的關鍵角色。

圖一　NI PXI論壇現場人潮絡繹不絕

在電源元件自動化測試部份，固緯電子示波器研發事業處專案襄理曾元佑表示，以往單一PXI儀控設備所能夠消耗的功率限制在25W之內，若待測物需要用到大瓦特數時，便必須搭配一般傳統的量測儀器，因此設計彈性就受到限制。固緯電子便藉由NI軟體定義的PXI模組化平台價值為核心，擴充測試大瓦特數電源轉換器待測物的能力。為突破以往中低階量測儀器供應商的市場定位，固緯電子以上述概念作為出發點，與NI合作設計出開放式模組化電源測試系統，強化了工業和消費電子應用電源轉換器的測試能力。

這款模組化電源測試系統中，NI主要提供操作介面、示波器和電表卡板、以及耐高壓轉換匯流排，其餘則是由固緯電子所衍生開發。為了降低客戶使用的門檻，在預設版本內就先刪除PXI控制器簡化功能的角色。至於軟體部份則是採用NI的測試管理套件TestStand，以此為基礎開發出其他LabVIEW測項功能，大部分軟體平台也是由NI所提供。藉此固緯電子設計出一套可支援工業用電腦和消費電子產品等電源自動化測試、並能提供相關服務的原型平台。

圖二　固緯電子示波器研發事業處專案襄理曾元佑

另一方面，在光學透鏡檢測部份，國家實驗研究院儀器科技研究中心先進電子系統製作廠助理研究員陳永祥指出，消費電子產品搭配的光學鏡頭，需要經過嚴謹的偏心檢測作業。藉由PXI模組平台的輔助，影像式光學透鏡模組的偏心檢測機台，光軸中心和幾何中心兩點運算的偏心量就能更為精確地檢測出來，且能進一步提高週邊擴充功能和運算速度，比起傳統機械式繞圓的檢測方式，更能提高效率和精確度，從2～3分鐘大幅縮減數秒即可。

圖三　右為國家實驗研究院儀器科技；左為研究中心先進電子系統製作廠助理研究員陳永祥

此外在LED晶圓測試領域，PXI模組化平台更扮演不可或缺的角色。亞克先進系統部經理林世芳和順英有限公司蕭順中表示，現場展示的6吋LED晶圓測試設備，整合順英的電光測試機以及亞克先進的移動控制機台，測試機除採用NI PXI SMU模組之外，整座機台亦涵蓋NI在電性、馬達、影像視覺、I/O介面、LabVIEW等軟硬體功能，可支援高速、低雜訊、穩定而精確的量測品質。6吋LED晶圓測試設備可同時進行垂直4點LED探針測試，並可兼顧波長檢測項目，不僅能大幅提高檢測產能，更可大幅降低無塵室生產線的建置成本，是台灣自主開發的LED軟硬體檢測平台。

圖四　右為亞克先進系統部經理林世芳；左為順英有限公司蕭順中