帳號:
密碼:
最新動態
產業快訊
CTIMES/SmartAuto / 新聞 /
Agilent:非信令序列測試解決行動通訊測試挑戰
 

【CTIMES/SmartAuto 王岫晨 報導】   2013年04月17日 星期三

瀏覽人次:【4683】

隨著智慧型手機與平板電腦的銷量快速成長,相關測試計劃也持續擴展,以因應目前多功能無線裝置的多無線晶片、標準和頻段的設計。安捷倫科技(Agilent)推出了最新的Agilent 6607C EXT無線通訊測試儀。該測試儀配備整合型多埠轉接器,可在製造測試環境中,同時測試多個無線裝置,因此測試速率比EXT-B快上3倍,但售價低了1.3倍,是經濟有效的量產測試方案。

安捷倫電子量測事業群無線寬頻事業部產品市場經理Michael Griffin(右)、與亞太區市場開發經理葉友文 BigPic:312x226
安捷倫電子量測事業群無線寬頻事業部產品市場經理Michael Griffin(右)、與亞太區市場開發經理葉友文 BigPic:312x226

安捷倫電子量測事業群無線寬頻事業部產品市場經理Michael Griffin指出,Agilent 6607C EXT無線通訊測試儀為整合式單機測試儀,其配置包括向量信號分析儀、向量信號產生器、高速序列分析儀、8個支援多種無線格式的雙向輸入/輸出埠,以及4個用於GNSS測試的輸出埠。使用上可提高無線裝置的測試速率、維持整體測試設備的成本效益,並且減少生產線上使用的空間與電力,讓測試挑戰迎刃而解。

安捷倫行銷處資深產品經理徐正平則認為,目前的行動通訊量測普遍遇到的最大挑戰,就是成本過高,以及測試時間過長等問題。為了降低無線通訊的測試成本,最好的方式就是將原本的信令模式,更改為非信令模式,如此便可讓測試成本大幅降低。此外,要縮短測試時間,則可透過序列式測試,來縮減整體的測試時間。

也因此,針對無線晶片組所需的快速序列非信令測試模式,EXT-C序列分析儀可與數據機晶片組同步運作,以消除信令負擔,並且利用單次擷取進行多次量測。EXT-C並結合經完整校驗的多待測物測試功能,可協助製造商實現快速測試目標,並增加生產線的產量。

關鍵字: 無線通訊測試儀  安捷倫科技 
相關新聞
[Computex]高通攜手R&S展出全新晶片組與處理器系列
量測市場下一場競賽:創新與商品化能力
SK Telecom與安捷倫合作展示混合式網路
安捷倫與TI Hermon實驗室合作無線通訊測試
2009安捷倫亞太區無線測試論壇6/24台北登場
comments powered by Disqus
相關討論
  相關文章
» 最佳化大量低複雜度PCB測試的生產效率策略
» 確保裝置互通性 RedCap全面測試驗證勢在必行
» ESG趨勢展望:引領企業邁向綠色未來
» 高階晶片異常點無所遁形 C-AFM一針見內鬼
» 高速傳輸需求飆升 PCIe訊號測試不妥協


刊登廣告 新聞信箱 讀者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 遠播資訊股份有限公司版權所有 Powered by O3  v3.20.2048.18.224.31.90
地址:台北數位產業園區(digiBlock Taipei) 103台北市大同區承德路三段287-2號A棟204室
電話 (02)2585-5526 #0 轉接至總機 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw