帳號:
密碼:
最新動態
產業快訊
CTIMES/SmartAuto / 新聞 /
中芯簽約採購愛德萬測試T5830記憶體測試系統
 

【CTIMES/SmartAuto 報導】   2017年12月14日 星期四

瀏覽人次:【4345】

愛德萬測試(Advantest)與中芯長電半導體有限公司(中芯長電)正式簽訂大量採購合約。中芯長電將自愛德萬測試購入大量的記憶體測試系統T5830,用於測試串列週邊介面(SPI) NOR快閃記憶體裝置,而在有機發光二極體(OLED)與觸控面板感應晶片(TDDI)迅速成長的帶動下,SPI NOR快閃記憶體裝置需求持續走強。

中芯長電半導體執行長崔東表示:「中芯長電對於與愛德萬測試簽訂策略性合約感到非常高興,並期許在業務範圍拓及持續成長的記憶體市場以及研發更複雜的3D IC之際,持續維持雙方公司之間的合作關係。」

中芯長電過去就曾安裝愛德萬測試測試系統V9300以測試高速數位與精度類比IC。而此次是中芯長電首次向愛德萬測試購買記憶體測試系統。

愛德萬測試總裁兼執行長Yoshiaki Yoshida表示:「中國的人口與人均收入不斷增加,帶動NOR快閃記憶體產業成長。企業基礎建設發展日趨成熟,以及包含中芯長電在內的產業主要參與者規模不斷擴大,成為帶動市場成長的助力。」

於2016年推出的T5830記憶體測試機功能一應俱全,能為廣泛用於行動電子裝置的各式快閃記憶體低,提供最佳化的低成本大量測試能力。T5830系統能執行晶圓測試並為低腳位到高腳位IC提供最終測試,可為客戶創造可觀的投資回報(ROI)並降低他們的財務風險。

T5830系統採用愛德萬測試獨特的Tester-per-Site架構,因此每個Site都能獨立運作,有助加快測試時間並降低測試成本。此系統亦包含具可擴展性的內建大電流可編程電源(PPS)。

T5830系統資料傳輸速度最快可達800 Mbps,並能在配置4個數位腳位情況下,同時測試多達2,304個裝置。除了測試NOR快閃裝置,T5830系統也支援NAND快閃裝置、智慧卡、單列直插式記憶體(SIM)、電子抹除式可複寫唯讀記憶體(EEPROM)以及其他嵌入式快閃記憶體。

T5830系統適用生產及工程開發,可用於認證測試或大量生產,且可完全相容於T5800系列產品,強化其可靠性以及模組可升級性。

關鍵字: 記憶體測試  中芯  愛萬德 
相關新聞
邁入70週年愛德萬測試Facing the future together!
愛德萬測試出貨第一萬套V93000 SoC測試系統新里程
愛德萬測試收購興普科技 持續開拓測試與量測解決方案
芯測科技獲法國4G LTE晶片製造商採用
實現AI的晶片 厚翼記憶體測試電路開發環境BRAINS
相關討論
  相關文章
» 以馬達控制器ROS1驅動程式實現機器人作業系統
» 推動未來車用技術發展
» 節流:電源管理的便利效能
» 開源:再生能源與永續經營
» 「冷融合」技術:無污染核能的新希望?


刊登廣告 新聞信箱 讀者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 遠播資訊股份有限公司版權所有 Powered by O3  v3.20.2048.3.133.141.92
地址:台北數位產業園區(digiBlock Taipei) 103台北市大同區承德路三段287-2號A棟204室
電話 (02)2585-5526 #0 轉接至總機 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw