账号:
密码:
最新动态
产业快讯
CTIMES/SmartAuto / 產品 /
全新Tektronix DisplayPort Type-C发射器解决方案可有效缩减相容性测试时间
 

【CTIMES/SmartAuto 編輯部报导】   2016年11月23日 星期三

浏览人次:【5807】

全球量测解决方案供应商--Tektronix(太克科技)日前推出全新的DisplayPort Type-C 发射器测试解决方案,与先前的Tektronix DisplayPort解决方案和其他竞争对手的解决方案相较,显著降低了相容性测试时间。根据实际环境的现场评估,与Tektronix高效能示波器搭配使用的高度最佳化的解决方案可让工程师在不到6小时内完成全套DisplayPort Type C相容性测试,而竞争产品需要长达16小时才能完成,全新的解决方案拥有显著优异的执行速度。

减少DisplayPort相容性测试时间,从长达16小时降至低于6小时,显著超越其他的竞争产品。
减少DisplayPort相容性测试时间,从长达16小时降至低于6小时,显著超越其他的竞争产品。

DisplayPort相容性测试的最大挑战之一是测试时间极长,工程师需在用以监控进行中执行的测试设定前花费大量的时间。除此之外,还需要整合DisplayPort Type-C的测试,该测试被支援作为USB 3.1规格下的替代模式之一。除了全自动化程序和缩短测试时间,新版本的Tektronix DisplayPort测试解决方案还整合了对Type-C规格的支援功能,包括自动测试设定和计时器快显视窗,以协助使用者执行免手动测试。

Tektronix高效能示波器总经理Brian Reich表示:「对于需依计划和预算将新设计推向市场的工程师,节省测试和量测中的时间可能是他们最终成功的重要因素。利用此解决方案,我们让客户当天就能处理DisplayPort设计中的问题。他们现在只需选择所要的测试即可轻松地开始执行,还能在测试执行时处理其他任务。」

这个版本的关键特性之一是引入DPOJET量测软体,有助于分析待测物特性和进行除错。如果在相容性测试期间任何测试失败,使用者可进入DPOJET DisplayPort量测库,深入了解波形压到眼图遮罩等问题,并查看预加重位准与电压摆幅之间的关系测试以执行进阶分析。解决方案还为使用者提供了在不同设定下配置量测的灵活性,在现有量测中进行配置变更,并在单次或自由执行重复模式下执行测试。

DisplayPort TX自动化解决方案采用了TekExpress框架来支援依据DisplayPort 1.2 Type-C 规格和CTS的相容性测试,而TekExpress框架是为自动化所设计的最先进工具。后端自动化引擎是以Iron Python为基础,此语言是使用以通讯端为主的程式设计和.Net远端处理。以通讯端为主的指令码介面是一个约定成俗的标准,可让工程师将自动化的Tektronix解决方案整合至其自动化环境中。

TekExpress框架透过单一面板进行待测装置 (DUT) 的组态作业,提供了简化的使用者体验。此框架现在包括使用Unigraf DPR-100参考输入辅助控制器的DUT自动化支援。透过增强的报告选项,使用者可以产生.html、.mht、.pdf和.csv格式的报告。 .csv格式的资料记录可协助使用者收集结果并深入分析系统行为,并提供即时和离线波形分析。

Tektronix选配DP12应用程式与Tektronix DPO/MSO70000和DPO70000SX系列示波器相容。

關鍵字: Type-C  发射器  DisplayPort  兼容性测试  Tektronix  太克科技  測試系統與研發工具  电信与数据仪器 
相关产品
Tektronix全新远端程序呼叫式解决方案从测试仪器迅速传输资料
太克4系列B混合讯号示波器 提供更快分析和资料传输速度
Tektronix推出增强型KickStart Battery Simulator应用程式
Tektronix宣布推出全新TMT4边限测试仪 简化并加速PCIe测试
Tektronix PCI 6.0接收器测试解决方案 满足下一代高效能需求
  相关新闻
» Rohde & Schwarz 行动通讯测试高峰会聚焦无线通讯最新发展 - 现已提供线上回放
» Rohde & Schwarz 与 ETS-Lindgren 合作提供下一代无线技术的 OTA 测试解决方案
» 筑波医电携手新光医院於台湾医疗科技展展示成果
» Tektronix电源仪表新突破 协助客户在日益电气化的世界快速创新
» Anritsu Tech Forum 2024 揭开无线与高速技术的未来视界
  相关文章
» 最隹化大量低复杂度PCB测试的生产效率策略
» 确保装置互通性 RedCap全面测试验证势在必行
» ESG趋势展??:引领企业迈向绿色未来
» 高阶晶片异常点无所遁形 C-AFM一针见内鬼
» 高速传输需求??升 PCIe讯号测试不妥协

刊登廣告 新聞信箱 读者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 远播信息股份有限公司版权所有 Powered by O3  v3.20.1.HK8CJBGQZ34STACUKP
地址:台北数位产业园区(digiBlock Taipei) 103台北市大同区承德路三段287-2号A栋204室
电话 (02)2585-5526 #0 转接至总机 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw