NI国家仪器推出整合式 HIL 模拟器 采开放式模组化架构，在时间紧缩、测试需求不断变化与人力减少的情况下，有助于汽车与航太嵌入式软体的测试人员继续维持品质。

全新硬体回路 (HIL)模拟器能够打造出开放式商用现成平台，不须牺牲所需弹性，便能降低开发与测试风险。

由于NI系统采用开放式的现成软硬体平台，因此能够轻松整合相机影像处理、RF I/O 与传统 HIL 元件至单一系统之中。这样的调整功能不同于目前其他的方法，可让工程​​师随时满足高阶驾驶辅助系统、系统电气化与高阶感测器 (例如雷达) ​​等进阶测试的需求。藉由NI推出的HIL模拟器，测试工程师便能选择以开放式工业标准?架构的整合式测试系统，不再受限于封闭式、无法调整的测试系统，也不必重新打造整套系统。

「我们选用NI HIL 测试系统，因?此系统采用开放式标准平台，有助于降低整体测试、长期维修与硬体持有成本。」Saab Aeronautics 的Anders Tunstromer 如此表示：「此系统让我们能依自身的确切需求客制化系统，并能在整合测试我们的狮鹫战斗机时，尽早发现、修复嵌入式软体的缺陷。」

「由于需求不断改变，同时又需要更完整的测试范围，因此除了一般元件之外，大部分的HIL 测试系统还必须提供数项客制化功能。」NI资料撷取与嵌入式系统行销副理Chad Chesney表示：「NI 标准化了这些测试系统的常见元件，以便我们的客户与合作伙伴能够专注在他们的专业领域，并确实提供最稳定、创新的控制系统。」

HIL模拟器是以PXI 与CompactRIO 开放式平台?架构的最新系统， 采用了VeriStand Real-Time 测试设定与记录软体、LabVIEW 系统设计软体，还有NI 全新的SLSC 硬体，适用于标准化讯号路由、切换器、负载与讯号处理。 NI HIL 系统透过 Real-Time 作业系统与 FPGA 技术，提供极致的客制化功能，并同时运用商用现成技术，降低长期维护成本。 （编辑部陈复霞整理）