新解决方案有助於缩短产品上市时间以及降低制造测试成本。

NI新款Sub-6 GHz 5G测试叁考解决方案符合5G新空囗（NR）的3GPP Release 15规范。

NI(美国国家仪器公司;National Instruments,NI)日前推出一款Sub-6 GHz 5G测试叁考解决方案，该解决方案符合5G新空囗（NR）的3GPP Release 15规范。

随着6 GHz以下的商用5G NR部署即将展开，工程师们正在积极开发Sub-6 GHz 5G 射频器件和设备。5G标准化的加速步伐正在迫使厂商尽可能快速地将产品推向市场。 NI的Sub-6 GHz 5G NR叁考解决方案是一种经济高效且高性能的测试选项，可?明工程师快速对其设计进行特性分析，并更轻松地从研发过渡到生产测试环境。

NI推出的新叁考测试解决方案适用於测试新型宽频RFIC，特别是在3.3-4.2 GHz和4.4-5.0 GHz频段工作的RFIC。工程师可以使用PXIe-5840向量信号收发仪(VST)测试连续信号频宽超过400 MHz的设备，该款VST具有1 GHz频宽的暂态信号收发功能，最高频率可达6 GHz。借助NI VST，该解决方案可为100 MHz NR信号提供优於0.32％（-50 dB）的残馀EVM性能，同时提供更快的测量速度。

该解决方案的关键部分是NI-RFmx NR测量软体，该软体跟随者3GPP规范的步伐进行演变。 最新版本的NI-RFmx NR测量软体提供5G NR波形生成和测量功能，符合3GPP R15关於非独立组网NR的官方规范，使工程师能够测试子载波间隔在15 kHz到120 kHz之间灵活变化的OFDMA和DFT-s-OFDM载波聚合波形。

NI公司RF和无线测试总监Jason White表示：「我们的5G测试新产品只是NI创新产品线中的最新产品，旨在帮助工程师更快地将5G技术推向市场。通过将高性能RF测量设备与极其快速灵活的测量软体相结合，我们可以在产品开发的多个阶段重复使用相同的仪器和测量设备，从而?明工程师缩短产品上市时间和测量资料关联时间。」

NI新的5G测试技术还为射频和半导体测试提供了全面的产品组合，包括用於2G、3G、LTE-Advanced Pro、WiFi 802.11ax、蓝牙 5等的测量软体。 此外，工程师可以使用NI VST以及600多种模组化PXI产品（频率从直流到毫米波）来开发全面的半导体特性分析和量产测试系统。