无论是在消费电子、电信、工业、医疗、汽车还是航空航太领域，嵌入式系统都是当今电子设备的核心。无瑕疵的操作至关重要，工程师在设计越来越紧凑的嵌入式系统时面临着复杂的挑战，这些系统要满足当今对效率、安全、可靠性和互通性的要求。

R&S MXO 4是Rohde & Schwarz在2023年嵌入式世界大会上展示的众多测试和测量亮点之一

Rohde & Schwarz在纽伦堡举行的2023年嵌入式世界展会上展示了其广泛的测试和测量解决方案。

Rohde & Schwarz的展台重点展示了新的R&S MXO 4系列，这是新一代示波器的首款产品。这款四通道示波器具有出色的13.3英寸全高清电容式触控式萤幕，同时提供了许多业界首创的功能。

R&S MXO 4具有最快的即时更新率，即4.5百万波形/秒，让开发工程师比其他任何示波器看到更多的信号细节和不频繁的事件。12位ADC在所有取样速率下的解析度是传统8位示波器的16倍。

而所有四个通道的标准采集记忆体为400M点，使其拥有100倍的标准记忆体。在嵌入式世界，叁观者可以在串列协定和解码设置中亲身体验R&S MXO 4，展示其新的CAN XL触发和解码能力。

高速数位介面是电子设计的核心。不断提高的资料速率和不断增长的集成密度为积体电路、电路板和系统层面的设计带来了新的挑战。展会叁观者可以了解到用於系统验证和调试的强大工具，以及对介面、PCB和互连的信号完整性进行符合性测试。

Rohde & Schwarz展台上的演示装置包括以先进的眼图为特色的信号完整性介面测试，以及DDR4设计的高速数位介面合规性测试，两者均使用R&S RTP164B示波器。使用R&S ZNB43向量信号分析仪（包括探头和演示板）展示了具有精确探头去嵌的高速差分信号结构的测量。

电源转换器的性能、稳定和清洁的电源轨信号以及嵌入式设计中的合格元件对可靠的电子设备至关重要。例如，测量电池操作的设备在所有阶段以及从睡眠模式过渡到活动模式期间的电流消耗，对设计工程师来说非常重要。

为此，Rohde & Schwarz展示了使用R&S Essentials产品组合中的R&S NGU源测量单元进行电池建模和模拟。Rohde & Schwarz的R&S LCX200 LCR测量仪和苏黎世仪器公司--2021年成立的子公司--的MFIA阻抗分析仪都展示了元件特性分析能力。

由於所有的电子控制器都容易产生传导或辐射的电磁辐射，许多成品电子产品在第一次就没有通过EMC符合性测试。调试、隔离和纠正电磁干扰问题所花费的每一天都会增加产品上市的时间。

作为EMC测试的领导者，Rohde & Schwarz展示了将EMI测试融入产品设计过程的解决方案。展会叁观者可以了解到如何使用R&S RTO6示波器作为EMI调试的有力工具，或者R&S FPL1000信号和频谱分析仪进行EMC预符合性测试。

许多应用和设备，如可穿戴设备或物联网设备，集成了具有无线技术的嵌入式设计。快速过渡到支援极高资料速率的Wi-Fi 7以及由UWB驱动的精确定位和安全测距应用的出现，推动了对自动化测试解决方案的需求，这些解决方案在产品生命周期的所有阶段都具有非凡的射频测试能力。

Rohde & Schwarz将展出两款久经考验的无线电通信测试机。R&S CMP180在Wi-Fi 7测试装置中展示了符合IEEE 802.11b的操作，而R&S CMP200则用於UWB Fira认证测试。

ADAS、资讯娱乐系统和5G的发展正在推高汽车资料速率，并使乙太网成为车载网路的现实技术。然而，随着资料速率的提高，确保电缆和元件的性能和互通性变得越来越重要。在产品发布之前，根据OPEN联盟等行业标准进行测试对制造商来说至关重要。

一个采用R&S RTP示波器的多十亿位元汽车乙太网合规性测试装置将在嵌入式世界中展出。汽车客户还将看到Rohde & Schwarz基於R&S NGM200电源系列的最新电池测试和电池模拟解决方案。