测试与量测解决方案供应商Tektronix公司今天发布了新款Keithley S530系列叁数测试系统，以及KTE7软体和其他增强功能。S530平台使半导体制造厂能为高速成长的新技术增添叁数测试能力，同时有效降低CAPEX投资，并显着地提升每小时晶圆产量。总体拥有成本随之降低後，将有助於制造商在竞争激烈的新市场中因应庞大的价格压力。

以KTE 7为基础的Tektronix新型S530平台可显着提升量测效能并有效降低成本，有助於半导体制造商在高速成长的新兴市场中占有一席之地

奠基於新兴宽频带间隙(WBG)技术的新型半导体产品(如GaN和SiC)有??达成更快的切换速度、更宽的温度范围、更好的电源效率以及其他优势。为了满足这些产品的测试需求，以KTE 7为基础的S530平台提供了实验室等级的量测效能，以及最短的设定和测试时间。

随着新应用的出现和需求的变化，高达1100V的高速、全弹性的解决方案亦应运而生。这使晶片制造商能够以最少的投资，在单一系统上利用最短的测试/设定时间，经济高效地将其扩展至高速成长的电源和WBG装置(包括汽车市场)中。

Keithley/Tektronix??总裁兼总经理Chris Bohn表示：「类比和混合讯号半导体制造商在5G通讯、汽车、物联网、医疗、绿色能源和其他市场中不断面临各种新型最终用途应用的旺盛需求。这个重要的测试平台更新有助於这些客户能更快速、更具成本效益地将新产品推向市场，同时使他们能够灵活地适应未来的新需求。」

S530系列的创新功能可在广泛的产品组合中显着提升测试仪的利用率，并轻松迁移现有的测试软体、探棒卡和其他产品，同时提供完整的资料关联性、有效提升测试速度。S530-HV机型能在任何针脚上测试高达1100V的电压，与电源和WBG应用中的其他竞争系统相较，可将输送量提高50%以上。

晶片制造商可以使用单一系统测试多种产品组合，包括根据IATF-16949品质管理标准的汽车产品。客户可在内部进行校验以尽可能地降低停机时间，也可以透过Tektronix的服务机构完成校验，享有全球高品质个人支援服务。

以KTE7为基础的平台为半导体制造商提供了从传统S600和S400系统的最简单且最具成本效益的迁移途径，不仅可保持完整的资料关联性，且输送量较S600更快25%。

产品特色

．S530-HV的选配测试头让操作员在从低压(<200V)移动至高压(>200V)晶圆级测试时，不再需要耗费时间来变更仪器、探棒卡和电缆测试设定。测试头使探棒卡与多家供应商的多种机型相容，可更快速地更换探棒卡并根据ISO-17025进行针脚校验，同时保持向後相容性。这可有效地降低迁移成本并保护客户投资，同时支援如汽车标准IATF-16949等的新要求。

．S530-HV能够在任何针脚上测试高达1100V的电压，与电源和WBG应用中的竞争系统相较，可将输送量提高50%以上。操作员可依任何顺序将任何测试资源连接至任何测试针脚，以快速、轻松地支援生产要求，而无需重新配置或重新设定讯号路径。

．KTE软体相容性显着地简化并加速了从旧系统(例如S600)的迁移路径，提供了完整的关联性，且输送量亦提升25%。

．内建的暂态过电压/过电流保护可防止意外损坏探棒卡、针头和仪器━这在高速WBG应用中尤为重要。

．在系统校准期间，新型5880-SRU系统叁考单元会自动切换所有直流和交流叁考标准，无需手动连接、中断和重新连接。完全自动化的过程有效减少系统停机时间，并减少执行校验时的支援成本，进而降低产品的拥有成本(COO)。

S530 系列叁数测试系统现已全球供货。