巨有科技（pgc）于日前宣布，暨采购SoC测试机台后，近期已再新添购Credence D-10和Chroma 3650系列的测试设备，以扩充及提升整体SoC测试服务的能力与效率。特别针对MCU、无线基频、显示驱动、LED / LCD驱动、Power IC、NAND flash controller、Switch和消费性混合讯号组件和PC 周边相关的IC等，提供完整且具成本效益的整体测试解决方案。

巨有科技扩充SoC测试设备

根据巨有科技表示，该测试方案配备完整的测试模块，如逻辑模块、ADC/DAC模块、ALPG内存模块、高电压模块和SCAN模块，可大幅降低产品原有的工程开发及量产测试成本，不但具备高产能及多功能的晶圆片和封装成品测试能力，能明显提供客户高质量及低成本优势，以适应目前对价格日益敏感的市场变动及需求。

巨有科技总经理赖志贤并表示，处于系统单芯片的时代潮流，IC测试与验证经常需要比IC设计开发时间多出数倍，因此，如何有效协助顾客解决及突破IC测试方面的技术问题及相关瓶颈，巨有科技除了在设计时间导入可测性设计如: DFT（Design for Test）、ATPG、Memory-BIST、Boundry Scan等设计工具环境之外，也持续投资全套完整的SoC芯片实体测试与验证之设备机台。

此外，赖总经理更进一步说明，SoC产业会随着科技趋势之演变，使得IC的设计难度提高，相对的IC产品的测试困难度也随之提高而造成产品开发上的瓶颈，相对于其他IC设计服务公司因不具备所需之测试设备，而选择将IC测试工作采取委外的运作方式，巨有科技提供给客户是一条鞭之全方位测试服务环境，利用内部自有的测试设备除了可降低整体测试成本。