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NI 半導體測試系統,開啟 ATE 測試新未來
 

【CTIMES/SmartAuto 報導】   2014年09月01日 星期一

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美商國家儀器 (National Instruments, NI) 將於 9 月 3 日至 9 月 5 日於 「2014 SEMICON Taiwan 國際半導體展」 發表最新半導體測試儀,歡迎前往 NI 攤位共同探究、了解 NI 最新半導體測試系統。

半導體晶片的設計難度不斷提升,並需要更高階的測試系統描述效能特性,且進一步提高了測試成本。NI 透過高彈性的硬體平台 PXI,與多 Site 平行測試排程軟體,以降低晶片測試的成本。全新的 NI 半導體測試系統 (Semiconductor Test System, STS),適用於 RF 和混合式訊號生產測試,並搭載 Port Module 可同時進行多埠的 S 參數與調變訊號測試,目前已有多家半導體領導公司採用,大幅提升效能與降低成本。此款半導體測試系統,將是 NI今年半導體展最大的重頭戲。

除此之外,我們亦將於現場展示半導體領域各相關應用解決方案,藉由 PXI 平台的彈性與高效能,將可為您帶來極高的工作績效與成果,竭誠歡迎您蒞臨美商國家儀器攤位參觀指教。

【活動資訊】

● 展館地點:台北世貿南港展覽館 (4樓)

● 攤位號碼:134

關鍵字: NI 
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