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Tektronix新推出PAM4分析解决方案
 

【CTIMES/SmartAuto 編輯部报导】   2015年10月19日 星期一

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Tektronix(太克科技)新推出一套分析工具,适用于新兴的PAM4调变量测需求,并提供光学和电子介面的完整支援。全新的工具可在DPO70000SX 70 GHz即时示波器和DSA8300等效时间示波器上运作,确保不论特定的应用需要哪种仪器配置,皆可提供正确的结果与最高的准确度。

全新的量测工具可在即时和等效时间示波器上运作,并提供最低的杂讯撷取成果
全新的量测工具可在即时和等效时间示波器上运作,并提供最低的杂讯撷取成果

PAM4是由IEEE P802.3bs工作群组在最新的400 Gigabit乙太网路标准中所采用的技术,适用于400G (通常为8 × 50G) 的电学和光学介面。相较于使用二位准讯号发送功能的传统NRZ,在PAM4中所使用的四位准方案显著地增加了讯号复杂度,并产生相关测试设备的新需求,以进行效能和杂讯灵敏度的测试。

若要推动业界广泛采用此一全新的调变方法,则关键即在于是否能利用一套可同时支援光学和电子领域的通用工具,可靠地分析从13GBaud至56GBaud的PAM4讯号特性。 Tektronix DPO70000SX和DSA8300示波器提供了低杂讯效能,可为工程师和研究人员提供准确的讯号撷取测试系统,能直接支援多位准的直接调变分析工作。

PAM4中的多位准信号发送功能的分析工作需要采用具备低杂讯和良好的讯号杂讯比的示波器,以准确地撷取和分析多位元状态。 Tektronix DPO70000SX示波器使用非同步时间交错(ATI)技术,提供了低杂讯撷取功能,相较于传统的频率交错高效能示波器,其杂讯更低30%。

光学PAM4量测分析同样也能从低杂讯撷取中获益。利用DSA8300系列取样示波器所采用的光学撷取技术,Tektronix现在可提供低杂讯和高灵敏度,甚至具备适当的完整时脉回复功能。 Tektronix 80C15/CRTP光学模组中提供了全新的杂讯效能位准,再搭配其TDEC和SR4一致性量测功能的完整补充,将适用于进行光学PAM4分析。

Tektronix高效能示波器总经理Brian Reich表示:「随着PAM4技术在当前和未来的IEEE标准中迅速崛起,Tektronix正致力于满足客户对有效量测分析工具的需求,我们在两项世界级的撷取系统上,针对电子和光学分析推出PAM4解决方案,为100G或400G设计工程师提供他们在PAM4开发上所需要的验证和设计工具,同时还提供低杂讯和高频宽。」

PAM4分析工具中所提供的功能包括:分析完整波形或相关波形的能力、多位准阈值的通过/失败分析参考位准设定、每个LSB的数值上升/下降时间、MSB位准,以及利用Tektronix提供的PAM特定PLL模型的内建时脉回复。 (编辑部陈复霞整理)

關鍵字: 示波器  分析工具  PAM4  调变量测需求  光学模块  Tektronix  太克科技  測試系統與研發工具 
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