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Tektronix为400G通讯测试推出全新45 GHz光调变分析仪
满足体积精巧和高效能数字化需求

【CTIMES/SmartAuto 編輯部报导】   2015年05月26日 星期二

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全球示波器制造商---Tektronix推出能够支持最新100G和下一代400G通讯标准的全新45 GHz光调变分析仪 (OMA)。 分析仪可支持单载波系统或多载波系统,并与Tektronix日前推出的DPO70000SX 70 GHz ATI高效能示波器紧密整合,为复杂的调变发讯提供了多信道、高采样率、低噪声数字化等功能,可用于测试相干光发射器、传输系统和接收器。

全新45 GHz光调变分析仪支持最新100G和下一代400G通讯标准,可用于测试相干光发射器、传输系统和接收器。
全新45 GHz光调变分析仪支持最新100G和下一代400G通讯标准,可用于测试相干光发射器、传输系统和接收器。

由于采用全新5?吋高效能示波器封装,工程师可以灵活地将多条撷取信道放在一起,而对机架或工作台空间的影响降至最小。 例如,两台70 GHz新仪器可以放在与标准实验室高效能示波器同样大的空间中。 这提供了额外的撷取效能,同时最大限度地降低了与调变分析仪的距离,进而改善了讯号完整性。

为了在多信道环境中保证精确的效能,全新的UltraSync解决方案实现了多机撷取系统及协调触发功能,固有的撷取间抖动优于任何单一仪器中的典型信道间抖动。 此外,还包括一条高速数据路径,将波形从扩展设备传送到主设备中,以快速进行分析。

加速产品开发周期

行动运算和云端运算的迅速成长也不断地推动着远距离光通讯带宽需求的成长。 为最大限度地提高光纤和网络设施投资,业界已经转向复杂的光调变格式,可以实现更高效率的数据速率,而又不要求更高的网络带宽。 到目前为止,研究人员和工程师一直需要依赖多家测试量测厂商,甚至要制作自己的测试夹具,才能执行要求的测试,这不仅要付出宝贵的研究时间,还会降低重复能力。通过今天推出的新产品,Tektronix现在解决了整个行业面临的怎样高效测试相干调变技术的问题。

Tektronix公司高效能示波器总经理Brian Reich 表示:「随着100G技术开始进入主流及400G成为焦点,许多客户向我们提到,配置灵活性和量测系统整合是保证快速产品开发周期的关键因素。 除了提供全新的45 GHz光调变接收器外,我们现在还提供了最完整的相干光解决方案,不仅拥有70 GHz带宽ATI示波器的讯号完整性,还改善了配置灵活性。 」

满足效能需求

OM4245 45 GHz光调变分析仪能够支持高达80 GBaud的双偏振相干光分析,提供了内建的窄行宽激光器(narrow linewidth lasers),并支持Tektronix OM系列用户接口(OUI)。 除典型分析应用中经过验证的简便易用性外,Tektronix OUI还提供了极高的灵活性,并能够存取研究人员进行更进阶的相干光分析所需的MATLAB计算引擎。 这为进行相干调变算法试验提供了一个强健、省时又可量身打造的平台。

随着100G需求演进到400G、甚至1Tb,工程师需要能够随着他们的需求一起成长的测试量测系统。 Tektronix最新推出的DPO70000SX ATI高效能示波器可在效能需求演进时方便地进行系统扩充。 针对400G以上的分析工作,OM4245提供了多载波支持,为任何配置的多载波系统提供自动分析功能,包括800G和1Tb结构。

關鍵字: 光変調アナライザ  OMA  45 GHz  单载波系统  示波器  Tektronix  太克科技  Tektronix  測試系統與研發工具  光通訊儀器 
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