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安立知BERTWave MP2110A取样示波器全新升级
 

【CTIMES/SmartAuto 报导】   2018年01月17日 星期三

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Anritsu安立知宣布升级其BERTWave MP2110A取样示波器(Sampling Oscilloscope),新增时脉还原(Clock Recovery)、4阶脉冲振幅调变(PAM4)分析以及抖动分析(Jitter Analysis)选项,用於制造及检测光模组与元件。

BERTWave MP2110A 新增时脉还原、PAM4 分析与抖动分析功能
BERTWave MP2110A 新增时脉还原、PAM4 分析与抖动分析功能

随着越来越多的供应商为用户提供独特的新服务,资料流量正呈指数级成长。因此,支援这些服务的光模组正朝着更高速的200Gbit/s与400Gbit/s发展,而传输格式也从先前的不归零(NRZ)编码技术进展到PAM4 。

另一方面,为了评估实际使用的模组性能,必须提供触发讯号才能评估传输设备的光学介面以及区分抖动元件。因此,为了满足这些多样化的量测需求以及制造PAM4光模组,Anritsu安立知为MP2110A推出了高效率的选项功能,用以协助缩短检测时间、提高产线良率,同时降低测量设备成本。

安利知MP2110A针对光模组 (CFP2/4/8、QSFP28、SFP28、OSFP、QSFP-DD等)、主动式光纤缆线 (AOC) 与光元件的实体层 (PHY) 性能评估,可应用於光模组及光元件的制造与检测。

多合一的MP2110A除了现有的误码率(BER)测量及眼图分析(EYE Pattern Analysis)功能外,现在又新增了支援时脉还原、抖动分析与 PAM4 分析三种新功能,使用者可随时在 MP2110A 尚升级这些新功能选项。

Option-095 PAM4 分析软体支援评估 PAM4 光讯号的测试需求,如TDECQ (Transmitter and Dispersion Eye Closure Quaternary)。

无需复杂的设定,即可轻松撷取测量结果,低杂讯 (3.4μW典型值) 且高灵敏度的示波器支援高可再现的测量,即使是对於眼图裕度很小的PAM4讯号亦可提供稳定的测量,除此之外,高速取样缩短了收集TDECQ分析资料所需的时间;缩短测量时间有助於提升PAM4讯号评估效率

Option-054 时脉还原 (Electrical/Optical)可从输入资料讯号中还原取样示波器所需的触发讯号,例如传输设备无时脉源时,其可用於监测波形。内建设计支援简单且低成本的测量系统配置,且无需复杂的配线,并且支援 NRZ 和 PAM4 的时脉还原,有助於降低设备成本,另外,减少MP2110A内部分频器造成的损耗并降低对於灵敏度的影响,有助於高灵敏度的PAM4讯号监测

Option-096抖动分析软体支援针对不同抖动元件的单独分析,如总体抖动(TJ) 、确定性抖动(DJ)及随机抖动(RJ)等。其特性包括支援J2、J9等要求的快速简易测量、制造检测(EY模式),也支援详细的DJ分析(先进抖动模式),而同步进行抖动分析与 EYE 遮罩测试也在支援范围内,有助缩短测试时间。

關鍵字: 取样示波器  时脉还原  4阶脉冲振幅调变  抖動分析  安立知 
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