账号:
密码:
CTIMES/SmartAuto / 產品 /   
NI发表高精度PXI电源量测单元
 

【CTIMES/SmartAuto 編輯部报导】   2016年07月25日 星期一

浏览人次:【3342】
  

NI 国家仪器于近日推出 NI PXIe-4135 电源量测单元 (SMU) 提供10 fA的量测灵敏度与高达 200 V 的电压输出。透过NI PXI SMU 的灵活弹性、高通道数密度、测试输出率,工程师可使用NI PXIe-4135 SMU 量测低电流讯号,并执行晶圆参数测试、材料研究、低电流感测器与IC 的特性测试等多种应用。

NI PXIe-4135 SMU 可量测低电流讯号,并执行晶圆参数测试、材料研究、低电流感测器与 IC 的特性测试等多种应用。
NI PXIe-4135 SMU 可量测低电流讯号,并执行晶圆参数测试、材料研究、低电流感测器与 IC 的特性测试等多种应用。

「我们的行内参数测试必须撷取数百万个资料点,过程中常会产生数微微安培的泄漏电流,」IMEC 研究员Bart De Wachter 博士如此表示:「新款NI PXI SMU可准确量测这些低电流讯号,并同时享有PXI 平台的快速除错与LabVIEW 提供的系统设计弹性。」

工程师可透过模组化 NI PXI SMU 打造体积精巧、平行的多通道数系统,并享有多达 68 个 SMU 通道的单一 PXI 机箱,能够针对数百个通道执行晶圆稳定性测试与平行测试。此外,使用者可善用高速通讯汇流排、精确的硬体序列与数位控制回路技术,借此提高测试输出率并客制微调任何待测装置的 SMU 响应。使用者也可以运用软体控制 SMU 响应,不仅可缩短 SMU 趋稳作业漫长的等待时间,还能藉由软体的弹性减少过冲与震荡,即使是高电容负载也一样。

「半导体装置越来越复杂,我们必须重新思考传统的研究方法、特性测试与稳定度量测,这也正是我们投资SMU PXI 的主要原因。」NI 自动化测试总监Luke Schreier 如此表示:「NI SMU不仅可降低测试时间、增加通道密度,现在还能提供10 fA 灵敏度、更优良的量测品质。」

NI PXI SMU使用互动式软体人机介面执行基本量测并为自动化应用除错,其操作的简易程度是箱型 SMU 无法达成的。此驱动程式提供辅助档案、文件与立即可用的范例程式,借以协助测试程式码的开发,另外还提供程式设计介面,可搭配 C、Microsoft .NET 与 LabVIEW系统设计软体等多种开发环境。工程师也可使用NI PXI SMU搭配NI TestStand测试管理软体,借此简化测试系统在实验室与生产线上的建置与布署。 (编辑部陈复霞整理)

關鍵字: SMU  PXIe  晶圆参数测试  低电流感测器  NI  国家仪器  測試系統與研發工具  半导体制造与测试 
相关产品
NI 发表 LabVIEW NXG 的新功能 推出快速、灵活且适用於网路的功能
NI推出满足5G NR研究与系统原型制作的全新mmWave Radio Head
NI扩充RFIC测试功能以因应NB-IoT与eMTC标准
Tektronix Keithley 2606B机型系统SourceMeter SMU 因应3D感应测试挑战
NI 推出Sub-6 GHz 5G新空囗叁考测试方案
相关讨论
  相关新品
OMAP 4处理器
原厂/品牌:TI
供应商:TI
產品類別:CPU/MPU
EM500EV-G
原厂/品牌:集博
供应商:集博
產品類別:IDE
CT49 Memory SiP NAND + DDR3
原厂/品牌:鉅景
供应商:鉅景
產品類別:Memory
  相关新闻
» 罗德史瓦兹:5G垂直应用与资安挑战将是一大重要课题
» ST强化智慧制造布局 满足市场状态监测与预测性维护需求
» 强化物联网与工业设备效能 ST推出高效能MCU
» NI 针对 6 GHz 以上的 Wi-Fi 6 PA/FEM 元件扩展测试范围
» 西门子:串起数位制造价值链 软体服务将是关键
  相关文章
» 以模型化基础设计混合讯号多波束声纳系统
» 支援三大应用情境 5G商用场景逐步确立
» 预认证互联简化IoT应用
» 非挥发性记忆体暂存器:新一代数位温度感测器安全性和可靠性大跃进
» 车联网通讯服务之来龙去脉
  相关资源
» Power Management Solutions for Altera FPGAs

AD

刊登廣告 新聞信箱 读者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2019 远播信息股份有限公司版权所有 Powered by O3
地址:台北市中山北路三段29号11楼 / 电话 (02)2585-5526 / E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw