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Tektronix针对ONFI快闪记忆体标准推出测试解决方案
 

【CTIMES/SmartAuto 編輯部报导】   2016年11月28日 星期一

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Tektronix(太克科技)推出针对开放式NAND快闪介面(ONFI)标准的测试解决方案。 ONFI 4.0测试解决方案可用于Tektronix高效示波器,包括可分析ONFI汇流排上DDR2/3模式的软体,以及介面板为基础的有效探测解决方案。

结合适用于ONFI 4.0标准的相容性测试软体和使用Nexus介面板的有效探测。
结合适用于ONFI 4.0标准的相容性测试软体和使用Nexus介面板的有效探测。

ONFI标准由ONFI工作小组发布,以简化在消费性电子产品和计算平台中整合NAND快闪记忆体的程序。 ONFI 4.0规格引入了进化的NV-DDR3介面,并具有VccQ = 1.2V运作能力,可有效提升效率和提高功耗,将NV-DDR2和NV-DDR3 I/O速度扩展至667 M /s和800 MT/s,并新增了ZQ校准功能。

随着速度的增加和电压位准下降,使用ONFI汇流排的设计人员将面临确保相容性、除错时序问题和存取讯号等挑战。 TEK-PGY-ONFI软体可让设计和测试工程师能测试ONFI介面对ONFI汇流排时间参数的相容性,并提供命令、位址、资料输入和资料输出等事务的自动量测。 TEK-PGY-ONFI软体中的细节视图功能透过使用类比波形注释来协助除错时序问题,从而关联ONFI波形的每个电气量测。

密集封装和高资料速率使得对NAND快闪装置的高完整性讯号存取充满挑战性。 Tektronix为一系列不同的机械式波形因数提供支援,包括插槽式、直接连接和专利的边缘探棒设计,适用于非常严格的机械要求。介面板和探棒的S参数模型可用于建立模型或产生要应用于示波器的去嵌入滤波器。

TEK-PGY-ONFI软体可在具有4GHz-33GHz频率的Tektronix MSO/DPO70000系列示波器上执行,并建议使用P7500或P7300系列探棒进行测试。对于某些ONFI的客户测试,讯号存取可能效果不佳或根本不可用,因此,Tektronix 建议使用由Nexus提供的ONFI 152 ball NAND Flash Edge高完整性介面板,以顺利存取讯号,同时维持讯号完整性。

Tektronix高效能示波器总经理Brian Reich表示:「这个ONFI测试解决方案为我们的客户提供了所需要的各种深入洞察资讯,让他们能将以记忆体为基础的产品更快速、更有信心地推向市场。与手动测试相较,此解决方案将可显著降低相容性测试时间、简化除错程序,最终进而提高生产力。」

全新的TEK-PGY-ONFI软体已加入Tektronix为其他记忆体技术 (包括eMMC、UFS和DDRA) 所提供的全方位解决方案集合。适用于Tektronix示波器和介面卡的Tektronix TEK-PGY-ONFI软体现已上市。

關鍵字: 示波器  NAND  快闪介面  闪存  オープン  Tektronix  太克科技  測試系統與研發工具 
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