德州仪器（TI）近日推出一款新型超高速类比数位转换器（ADC），具有领先业界的频宽、取样率及最低的功率消耗。ADC12DJ5200RF可协助工程师实现 5G测试应用和示波器的高量测精确度，以及应用於雷达的 X 频带 (X-band)直接取样。

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TI 将於 2019 年 6 月 4 日至 6 日在美国波士顿举行的国际微波会议（IMS，International Microwave Symposium）的1272号摊位展示 ADC12DJ5200RF。

在最宽的频谱范围内实现最快的量测

-最宽的频宽：在8 GHz频率下，与其它竞争产品相比，ADC12DJ5200RF可让工程师实现高於20%的类比输入频宽，使工程师能够直接将非常高的频率数位化，无需另外降频进而影响功率消耗、成本和尺寸。

-最快的12位元ADC：在双通道模式下，ADC12DJ5200RF取样速率为每秒5.2 gigasamples （GSPS），并以12位元解析度撷取高达2.6 GHz的瞬间频宽（IBW）。在单通道模式下，新型的超高速ADC取样速率为10.4 GSPS，可撷取高达5.2 GHz的IBW。

-高效介面：ADC12DJ5200RF 为第一款支援JESD204C标准介面的独立GSPS ADC，其能大幅减少向可程式逻辑阵列（FPGA）输出资料时，所需的串联器/解串器之通道数量，进而让设计人员能够实现更高的资料速率。

在电源供应和温度变化范围内以最高性能和稳定性进行设计

-最高的讯号侦测敏感度：ADC12DJ5200RF在电源供应变化范围内具有最高的动态性能，即使在最低规格下也是如此，透过提供超高的接收器敏感度侦测最微弱的讯号，可提升讯号的智慧程度。此外，该装置包括内部振动 (internal dither)，可提高无杂波(spurious-free)性能。

-高量测准确度：TI 新型的超高速ADC 显着地降低了系统误差，且偏移误差低至 ±300 μV，以及零点温度漂移 (zero temperature drift)。

-最低的CER：设计测试与量测设备的工程师可以充分利用 ADC12DJ5200RF极低的程式码错误率（CER，code error rate）实现高量测可重复性（repeatability），使其优於竞争装置高於 100 倍。

解决方案尺寸缩减 30% 且功率消耗降低 20%

-更小的系统尺寸：ADC12DJ5200RF 比离散式解决方案小 30% 的尺寸，10 mm×10 mm的尺寸可帮助工程师节省电路板空间。这款新型超高速ADC更减少通道数量，有助於更小的印刷电路板设计。

-最低的功率消耗：ADC12DJ5200RF 4-W的功率消耗可协助工程师将散热降至最低，并简化整体的热能管理设计，比其他竞争品牌的 ADC 少20% 的功耗。

ADC12DJ5200RF与以下其他TI GSPS ADC针脚相容，可提供从2.7 GSPS到10.4 GSPS的简单升级路径，并最小化重新设计的时间和成本：ADC12DJ3200、ADC12DJ2700和ADC08DJ3200。

加速设计的工具和支援

-使用ADC12DJ5200RFEVM和TSW14J57EVM评估模组测试全新的超高速 ADC，现在即可从TI store和授权代理商购买。

-工程师可以使用 ADC12DJ5200RF 以及用於时钟和电源供应最隹化的多晶片同步叁考设计，快速开始设计。

供货与封装

ADC12DJ5200RF双通道和单通道超高速ADC 样品可透过 TI store 取得，该装置采用144-ball、10 mm×10 mm倒装晶片球栅阵列（FCBGA）封装。