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【CTIMES/SmartAuto 林佳穎报导】   2010年07月08日 星期四

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惠瑞捷(Verigy)在日前宣布,其经生产验证的V93000平台中,新增了 Direct-Probe解决方案,进一步提升该平台的扩充性。该平台针对数字、混合信号,和无线通信集成电路的高性能针测产品,进行量产、多点针测。

新的 Direct-Probe 创新型射频解决方案,可降低射频设备、高接脚数数字设备以及复杂的混合信号设备的测试成本,将可协助全球半导体市场,能快速向高性能针测和晶圆级芯片尺度封装转型。

惠瑞捷的 V93000 平台,在增加 Direct-Probe 射频解决方案后,消除了晶圆和测试机之间的传统机构接口,从而减少了讯号路径连接点的长度和数量,提高了射频设备测试的信号完整性。此外,扩充新功能的 V93000 ,在设计时可使用适合晶圆探针和终程测试的单测试载板,从而缩短 IC 从开发到生产的时间,使探针和终程测试间的相关工作量降至最低,并实现强大的多点测试能力。

關鍵字: 半导体制程  射頻  半导体设备  惠瑞捷 
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