半导体测试设备供应商爱德万测试 (Advantest)发表旗下TAS7400TS太赫兹光学取样分析系统的最新高频率解析度选项。新选项具备优异的成本效益又操作简便，为无线电波吸收与基板材料之高频特性评估。提供了极具开创性的测量方法。这些材料都是Beyond 5G / 6G次世代通讯科技、还有应用于先进驾驶辅助系统(ADAS)之毫米波雷达科技所不可或缺的要件。

爱德万发表的TAS7400TS太赫兹光学取样分析系统的最新高频率解析度选项。能进行Beyond 5G下一世代通讯技术趋势的材料特性量测

向量网路分析仪(VNA)于评估毫米波和高频领域各类材料之传输特性 (穿透率、反射率) 与复杂的介电常数的广泛应用已久，近年来，在更广频宽进行这些特性评估的需求更为重要，因此VNA花费在测定与校准每一个频段的时间与工夫逐渐成为需要检讨的课题。

爱德万测试的太赫兹光学取样系统，透过对广泛频段进行批次测量以及脉冲电磁波的运用，能解决上述问题。现在，只要一套小巧的光学取样系统 (测量环境) 就能执行测量任务，既经济又省空间；还有映射量测选项，能进行材料表面频率特性的分析。不仅如此，TAS7400TS最新选项的频率解析度与扫描速度是之前产品的5倍，也使其成为评估新材料之高频特性最理想的解决方案。

该解决方案将于11月8日至10日于日本分析科学仪器展（JASIS）、11月24日至26日于日本2021微波工作坊暨展览会（MWE 2021）展出。

频率范围：0.03~ 2THz (Bandwidth (SNR=1))

频率解析度：380 MHz

扫描速度：40 ms / scan

量测项目：穿透率、反射率、相位差、复杂的介电常数、散逸率