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【CTIMES/SmartAuto 报导】   2019年01月16日 星期三

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爱德万测试公司总裁暨执行长吉田芳明,已获列为2018晶片制造业ALL STAR企业名人,跻身VLSIresearch晶片历史中心名人堂,与半导体产业最知名、最有贡献的名人共同并列。每年,VLSIresearch都会为这些高阶经理人与领导人,对其在带领公司与产业推动这一路上的辛劳贡献,致上最高敬意。

引用吉田先生对持续发展中的半导体产业成长与成功的愿景,VLSIresearch的执行长Dan Hutcheson特别强调,吉田先生对 “Grand Design”、以及对爱德万测试未来的中期计划策略与执行方向是非常清楚的。

这些在2018年落实的策略,一方面除了强化爱德万测试的核心业务,更同时追求卓越经营,并利用持续增强顾客价值的整合化解决方案,来向外拓展。此外,在新业务的开拓上,爱德万测试将持续扩大其业务领域,将相关市场,如半导体设计与评估、以及产品系统级测试流程等等一并纳入。

Hutcheson执行长同时也注意到,爱德万测试2018年的成就,就足以证明其成功,并说明在吉田总裁暨执行长的带领下,爱德万显然已经超越了测试与量测的领域。

在得知自己被列入2018 ALL STAR名人堂後,吉田总裁暨执行长表示 :「获得此项殊荣,同时能与我长期以来景仰的半导体产业领袖和先知们并列,实在令我愧不敢当。非常感谢VLSIresearch的团队颁发给我这样的荣誉,同时我也要恭喜所有2018 ALL STAR的得奖人与他们的成就。」

關鍵字: 愛德萬 
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