美商吉时利仪器公司（Keithley Instruments, Inc.），继荣获多项大奖的Model 4200-SCS半导体特性量测系统之后，再推出比Model 4200-SCS更先进的脉冲测试软硬件量测产品。这套半导体实验室专用的量测系统，结合DC与脉冲测量功能，搭配全方位应用程序工具组，是完整解决方案的最佳选择。搭载高阶脉冲讯号产生卡与全新示波器卡，提供研发人员更强大的工具能力，投入进阶半导体研发及生产作业。吉时利荣膺大奖的Model 4200-PIV量测完整解决方案，再推出两套全新应用解决方案；多用途的Model 4200-SCS遂在DC与脉冲硬件与软件功能更上一层楼，内容包括闪存测试、高功率RF组件测试与高阶半导体材料脉冲测试功能等等。

此次的全新解决方案，硬件能力大幅强化，例如全新的脉冲讯号产生卡Model 4205-PG2拥有多项全新功能，其中包括专利申请中的Segment ARB模式，允许用户利用简单编辑即可轻易产生复杂的波形，Segment ARB功能超越传统基本脉冲产生的波形，提供更复杂的波形输出。此项功能是测试闪存的关键要项，因为闪存需要复杂的波形来测试内存单元(memory cell)特性及使用寿命；Model 4205-PG2也搭载任意波形产生器（即ARB模式），及内建超耐用长效型输出Relay，不但操控简单，更免除了使用测试闪存所需外部Relay的麻烦，大幅缩短Endurance测试所需时间。

此外这套系统也采用全新电源供应器，有效扩展Model 4200-SCS系统的支持范围。Model 4200-SCS允许每个机台可支持4个独立的脉冲讯号产生器卡-4205-PG2。每片Model 4205-PG2具有两个信道，Model 4200-SCS测试系统每个机箱最多可支持8个脉冲讯号信道。此外Model 4205-PG2系统可连接外部讯号触发源，接收触发输入讯号，让单一机台内多片脉冲卡得以相互同步在10个微毫秒之内。