泰瑞达(Teradyne)于今日宣布，推出最新的D750Ex LCD驱动IC测试系统。D750Ex为专门设计用以测试高分辨率LCD驱动器IC。此系统为奇景光电(Himax)所采用，用以测试其下一代的大尺寸驱动器与手机驱动IC。

D750Ex系统提供了一个每脚端(Pin)高密度资源的架构，可支持整体程序超过97%的平行测试效率。D750Ex 也同时具备嵌入式DSP与中央式DSP 的架构，可增加处理效能。此系统的体积很小，与必须同时使用大型计算机柜和测试头的竞争对手系统相较，所需的空间减少了 50-85%。

D750Ex采用一万用接口埠(Universal Slot)的架构，可根据设备测试需求将多种类型设备放置于同一系统中。D750Ex也提供了内存测试选项(Memory Test Option, MTO)，无须额外的埠即可在一次完成测试行动驱动IC。在竞争对手的系统上，行动设备必须于两个平台上测试，一个平台测试LCD，另一个平台测试内存。D750Ex适用于各信道的「任一脚端」架构，大幅简化了探针卡的设计，也使得多点测试的开发环境更为弹性。

奇景光电的技术长蔡志忠表示，我们选择D750Ex是因为这套系统生产效能高、体积小，非常能符合我们在生产、产品上市以及测试成本方面的需求。D750Ex 的弹性转换功能让我们不但可以测试LCD驱动IC，也能于同一平台上测试逻辑设备。

Teradyne LCD驱动IC业务部的总经理George Rose表示，LCD驱动器的市场主要由各种消费者产品来推动，大至平面电视和计算机屏幕，小至移动电话等产品。消费者对这些产品的质量、复杂度等要求越来越高，因此用来测试这些产品驱动IC的方法也必须越来越好。抱着这样的想法，我们与LCD 驱动器技术中具备领导地位的奇景光电合作，以帮助我们开发D750Ex高密度架构，找出这个市场中最重要的测试方法。

Rose强调，LCD 驱动器市场对于成本相当敏感，开发D750Ex时，便将J750的成本优势延续下来。如体积小、产能大、低成本等等。Teradyne还扩张了D750Ex的脚端密度与设定弹性，让我们得以提供LCD驱动器IC制造商更具成本效益的解决方案，将他们的成功更往上推进一步。