安捷伦科技（Agilent Technologies Inc.）日前宣布推出两套内插器解决方案，可结合使用全球最快的逻辑分析仪，对DDR4和DDR3 DRAM设计进行测试。这两套内插器解决方案可快速而准确地撷取位元位址、指令和资料信号，以进行设计除错并验证量测。

Agilent W4633A BGA内插器结合Agilent E5849A探棒，可探量资料速率更高的DDR4 x4或x8 DRAM设计。利用Agilent W3636A BGA 内插器，工程师可针对2G以上容量的非堆叠DDR3 x16 DRAM进行探量。

随着记忆体的处理速度提高到DDR4的3.2Gb/s资料速率，工程师在设计应用于伺服器和嵌入式装置的新一代记忆体系统时，面临着极大的挑战。准确的探量和信号撷取成为日益重要的关键要素，以进行新设计除错和验证。

新的内插器解决方案可以直接存取DDR4 x4 或x8 DRAM BGA焊球，如此既可确保低负载，又能尽量减少对嵌入式系统设计信号完整性的影响。该探棒适用于现有的设计，可省下预先规划的时间并且避免重新设计。另外，两套新的内插器解决方案可与全球最快的Agilent U4154A 逻辑分析仪系统搭配使用，后者提供高达4Gb/s 的状态速度和高达2.5GHz 的触发序列速度。

台湾安捷伦科技电子量测事业群总经理张志铭表示：「我们的客户需要使用准确度更高的探量工具，以增强其新一代记忆体系统的资料速率并且降低功耗。藉由搭配使用DDR4 BGA内插器、E5849A探棒和U4154A逻辑分析仪系统，工程师可测试资料速率远远超出目前2400 Mb/s速率的DDR4记忆体。」

W3630A系列DDR3 BGA探棒，可搭配使用示波器、逻辑分析仪以及U4154A逻辑分析系统，以便执行资料速率高达2400 Mb/s的实体层和功能测试。

安捷伦DDR3/4测试解决方案的特色包括：

‧ B4622B DDR2/3/4和LPDDR/2/3协定相符性测试和分析工具套件结合4种不同的软体工具，让工程师能利用功能协定相符性检查软体、自动化实体位址触发设定工具，以及汇流排统计资讯和位址存取直方图，进行整体系统效能总览测试。有了这些工具，记忆体设计工程师可大幅缩短除错时间，并提高DDR设计验证工作效率

‧ B4621B DDR2/3/4协定解码器软体可将所撷取的信号转译成容易理解的汇流排资讯，以显示相关资料丛发。该软体可以解码有效的读写指令，使其包含列地址和栏位址，以及与指令相关的完整资料丛发。 B4621B汇流排解码软体可以利用预设的DDR2、DDR3或DDR4探量配置或DDR设定辅助工具的关键系统属性，加速对DDR2、DDR3 或DDR4汇流排信号进行解码。

‧ DDR眼图扫描/眼图定位软体提供独特的眼图扫描功能，可自动确定每个单独通道上眼图中时间和电压的取样点，以获得最高的取样可靠度。 DDR眼扫描显示功能可协助使用者深入分析汇流排信号完整性，并且对相同条件扫描到的所有信号进行定性比较。

‧ DDR设定辅助工具透过一系列的简短问题和下拉式选单，引导使用者在DDR2/3/4/或LPDDR2/3/4量测过程中，进行状态模式量测中的各项设定。

‧ DDR配置程序建立工具是安捷伦DDR设定辅助和眼图定位软体套件中的新工具，可协助工程师根据DDR/LPDDR设定中所使用的客制探量解决方案来定义接脚布局，然后根据接脚资讯建立XML设定档。

U4154逻辑分析模组是多功能模组，具有高达4 GT/s的状态速度和2.5 GHz触发序列速度，让工程师能够信心十足地触发并撷取DDR4 3.2 Gb/s信号。如与全新的DDR4探量解决方案、B4621B解码器，以及B4622B相容性测试软体工具搭配使用，该模组可提供记忆体产业所需的完整测试功能，有助于进行系统整合。